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H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits

H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption

H03K19/0016—Arrangements for reducing power consumption by using a control or a clock signal, e.g. in order to apply power supply

Abstract

Translated from Korean

적어도 하나의 M0S 트랜지스터로 이루어지는 제1의 피제어회로(100)와, M0S 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 발생하는 기판 바이어스 제어수단(102)을 구비하고, 기판 바이어스 제어수단(102)을 제1의 상태에 설치하는 것에 의해 M0S 트랜지스터의 드레인·소스 사이에 비교적 큰 전류가 흐르는 것을 허용하며, 기판 바이어스 제어수단을 제2의 상태에 설치하는 것에 의해 M0S 트랜지스터의 드레인·소스사이에 상기 비교적 큰 전류를 보다 작은 값으로 제어하는 반도체 집적회로장치에 있어서, 제2의 상태인 때에 제1의 피제어회로에 주는 기판 바이어스의 값이 제1의 상태인 때보다도, PM0S 트랜지스터의 기판 바이어스에 대해서는 높은 전압치이고, NM0S 트랜지스터의 기판 바이어스에 대해서는 낮은 전압치이며, 제2의 상태인 때에 제1의 피제어회로에 주는 전 A first controlled circuit 100, a state of the includes a substrate bias control means (102) for generating a substrate bias voltage of the M0S transistor, and substrate bias control means (102) of claim 1 constituted by at least one M0S transistor the more the relatively allows a large current flows, and the substrate bias the relatively large current control means between the drain and source of M0S transistors by providing to the second state to the drain-source of M0S transistor by providing a semiconductor integrated circuit device for controlling a small value, in time to the second state of all, when the value of the substrate bias to the controlled circuit of the first state of a first, high voltage chiyigo for the substrate bias of PM0S transistor, a low voltage value for the substrate bias of the transistor NM0S, the entire time that the second state of the controlled circuit of claim 1전압이 상기 제1의 상태인 때보다도 작게 되도록 제어한다. Controls to be smaller than that when the voltage state of the first.

(2) 일반적으로 CM0S 회로는 기판 바이어스 효과가 작은 쪽이 보다 고속으로 동작하기 때문에, 스탠바이시의 서브드레시홀드 리크전류를 저감하기 위해서 기판 바이어스 효과가 커지도록 M0S 트랜지스터를 설계한다고 하는 것은 상반되는 요구가 된다. (2) In general, CM0S circuit requirements to the contrary it appears that the practice to design a M0S transistor because it operates in a higher speed side of a small substrate bias effect, so that the substrate bias effect becomes larger in order to reduce the subthreshold leakage current in standby mode It becomes.

(3) 스탠바이시와 액티브시에서 문턱치 전압을 보다 크게 변화시키기 위해서는, 보다 깊은 기판 바이어스를 인가하면 좋다. 3, may be applied to a deeper substrate bias voltage in order to more greatly change the threshold voltage in the standby mode when the active.그러나, 이와 같은 깊은 기판 바이어스의 인가는 M0S 트랜지스터의 드레인·웰 또는 웰·웰 사이등에 큰 전위차를 생기게 하는 것이 되어, pn접합에 많은 접합리크를 생기게 한다. However, the application of a deeper substrate bias is such that for causing a large potential difference like the drain-well or well-well of transistor M0S, and causes a large junction leakage in the pn junction.

발명자들은 특히 산화막 두께(게이트 절연막)가 얇은 MOS 트랜지스터에 있어서는, 어느 정도 깊은 기판 바이어스를 인가해 버리면 그이상의 깊은 기판 바이어 스를 인가하여도 리크전류는 저감되지 않고, 오히려 GIDL 전류(Gate-Induced Drain Leakage 전류)라고 불리우는 PN접합의 접합 리크전류가 흐르는 것에 의해 도리어 리크전류가 증대하여, 스탠바이시의 소비전력이 증대할 우려가 있는 것을 발견하였다. In the inventors have in particular the thickness of the oxide film (gate insulating film) thin MOS transistor, to some extent if I by applying a deeper substrate bias is also applied to more deeper substrate bias leakage current is not reduced, but rather GIDL current (Gate-Induced Drain rather, the increase in the leakage current by the junction leakage current of the PN junction called leakage current) is flowing, it was found that there is a fear that the power consumption during standby increases.

도 19는 산화막 두께가 얇은 MOS 트랜지스터의 드레인전류(Id)의 게이트전압(vgs) 의존성을 나타내는 도면이다. 19 is a diagram showing the gate voltage (vgs) dependency of the drain current (Id) of the MOS transistor is a thin oxide film thickness.드레인·게이트간 전압이 큰 영역에서, GIDL 전류라고 불리우는 드레인에서 기판으로의 리크전류가 흐르고 있다. In the drain-gate voltage is greater between the area, the leakage current flows from the drain to the substrate called the GIDL current.

곡선(A)는 드레인전압(Vds)이 1.8V이고, 또한 기판 바이어스를 인가하지 않은 (Vbb=0V)경우의 의존 특성을 나타내고 있다. Curve (A) shows a drain voltage (Vds) is 1.8V, it also indicates the dependency characteristic in the case is not applied to the substrate bias (Vbb = 0V).게이트전압(Vgs)이 0V일 때의 드레인전류(Id)가 트랜지스터의 오프(off)시의 리크전류이다. Gate voltage (Vgs) is 0V the drain current (Id) of the leakage current at the time when the Off (off) of the transistor.Vgs=0V 부근에서는 서브드레시홀드 리크전류에 의한 리크전류가 흐르고 있다. In the vicinity of Vgs = 0V flows a leakage current due to the subthreshold leakage current.

곡선(B)는 Vds=1.8V이고, 또한 기판 바이어스를 조금 인가한 경우, 예컨대 기판에 -1.5V의 전위(Vbb=-1.5V)를 인가한 경우의 의존특성을 나타내고 있다. Curve (B) is a Vds = 1.8V, it also indicates the dependency characteristic in the case of applying the case of applying a little bias to the substrate, for example, the potential (Vbb = -1.5V) of -1.5V to the substrate.이 경우, 기판효과에 의해 서브드레시홀드 리크전류는 감소한다. In this case, by a substrate effect the subthreshold leakage current is reduced.곡선(B)의 경우, 트랜지스터의 오프(off)시에 흐르는 리크전류의 크기는, 서브드레시홀드 리크전류에 의해 결정되고 있다. In the case of curve (B), the size of the leakage current flowing in the off (off) of the transistor is determined by the subthreshold leakage current.

곡선(C)은 Vds=l.8V이고, 게다가 기판 바이어스를 깊게 인가한 경우, 예컨대 Vbb=-2.3V를 인가한 경우의 의존특성을 나타내고 있다. Curve (C) shows the dependence characteristics when the Vds = l.8V and, when the addition is deeper substrate bias, for example Vbb = -2.3V applied.이 경우, 기판효과에 의해 서브드레시홀드 리크전류가 감소하는 한편, GlDL 전류가 증가한다. In this case, to the subthreshold leakage current is reduced by a substrate effect On the other hand, increasing the current GlDL.곡선(C)의 경우, 트랜지스터의 오프(off)시에 흐르는 리크전류는 GIDL 전류가 지배적으로 된다. In the case of curve (C), the leakage current flowing in the off (off) of the transistor is the GIDL current is dominant.깊은 기판 바이어스의 인가에 의해, 트랜지스터의 오프(off)시의 리크전류는 보다 얕은 바이어스를 인가한 경우(곡선(B))보다도 많아져 버리고 있다. If one by the application of a deeper substrate bias, the leak current in the off (off) of the transistor is applied to a shallower bias it is turned away more than (curve (B)).

이와 같이 산화막 두께가 얇은 M0S 트랜지스터에서는, 기판 바이어스를 일정치 이상 깊게 인가하더라도 종래 상정되고 있었던 바와 같은 리크전류를 저감하는 것은 가능하지 않고, 오프(off)시의 리크전류는 GlDL 전류에 의해서 반대로 증가하여 버리는 것이 발견되었다. In this way, in M0S transistor is the oxide film thickness is thin, even if applied deeper than a predetermined value with respect to the substrate biases not possible to reduce the leakage current, as was conventionally assumed, the leakage current in the off (off) to increase contrast, by GlDL current it was found to discard.트랜지스터의 프로파일(예컨대, 확산층의 불순물농도 등)에도 의하지만, 산화막 두께가 5nm 이하인 M0S 트랜지스터에서는 GIDL 전류의 값이 무시할 수 없을 정도로 커지기 때문에, 인가할 수 있는 기판 바이어스의 범위는 제한되는 것으로 된다. Only relying in profile (e.g., the diffusion impurity concentration, etc.) of the transistors, since the oxide thickness of 5nm or less M0S transistor the larger degree can not be ignored, the value of GIDL current, the range of the substrate bias that can be applied is to be limited.따라서, 종래예의 기술에서는 산화막 두께가 얇은 M0S 트랜지스터에 있어서는 리크전류의 저감효과도 제한되지 않을 수가 없다. Thus, the example of related art technique, can not not be limited effect of reducing the leakage current in the oxide film thickness is thin M0S transistor.

(4) 서브드레시홀드 리크전류나 pn접합 리크전류에 의해서, 회로에 흐르는 전류값에 의해 회로의 불량판정을 하는 IDDQ 테스트가 곤란하게 된다. 4 by the subthreshold leakage current or the pn junction leakage current, is the IDDQ test for the failure judgment of the circuit by the current flowing through the circuit difficult.

이러한 의존특성을 이용함으로써, 산화막 두께가 얇은 트랜지스터의 오프(off)시의 리크전류를 큰 폭으로 감소시킬 수 있다. By using such a dependence, it is possible to reduce the leakage current in the off (off) of the oxide film thickness of the thin transistor substantially.이와 같은 기판 바이어스 조건을 칩의 스탠바이시에 각 MOS 트랜지스터에서 실현하기 위해서는, 트랜지스터의 전원전압을 통상 동작시보다도 낮게 하고, 게다가 기판 바이어스를 깊게 인가하면 좋다. In order to realize this, such a substrate bias condition in each MOS transistor at the time of the chips in standby, and a low power source voltage of the transistor than the normal operation, yet may be applied to deepen the substrate bias.

또한 특개평7-254685호 공보에는, 스탠바이시에는 트랜지스터의 문턱치의 절대치를 높게 하여 서브드레시홀드 전류를 저감하기 위해 기판 바이어스 전압을 제어하고, 아울러 게이트 리크전류나 밴드-밴드간 터널 리크전류를 저감하기 위해서 트랜지스터의 전원전압을 낮게 하는 것이 개시되어 있다. Also, Unexamined Patent 7-254685 discloses, during standby, the control and the substrate bias voltage for increasing the absolute value of the threshold value of the transistor by reducing the subthreshold current, as well as gate leakage current and the band-to-band tunnel leakage current reduced It discloses the low power source voltage of the transistor to.그러나 본 공지예에는, 각각의 수단이 독립하여 효과를 가지는 것으로서 인식되어 있고, 박막트랜지스터에 있어서는 상기 수단이 상승적으로 리크전류를 효과적으로 저감시킬 수 있는 것에 대해서는 인식되어 있지 않다. But is not recognized for what is known in the present example, the respective means are independent and are recognized as having an effect, it can be the means for effectively reducing the leakage current in the thin-film transistor synergistically.또한, 이 공보에서는 액티브상태에는 내부 전원전압을 종래의 내부 전원전압(IntVcc)보다도 △만큼 높고, 열전자효과(hot electron effect)에 의해 결정되는 전압을(IntVcc+△) 인가하며, 스탠바이상태에는 내부 전원전압을 VccMIN에 가까운 값(IntVcc-△′)으로 설정하고 있다. In addition, a high Laid In all, by △ active state, the internal supply voltage conventional internal power source voltage (IntVcc), the voltage determined by the hot electron effect (hot electron effect) is (IntVcc + △), and the stand-by state, the internal power supply the voltage is set to a value close to (IntVcc- △ ') in VccMIN.이 때문에 액티브상태에서는 종래 회로보다도 고속으로 동작하고, 스탠바이상태에서는 저전력으로 되는 것이 언급되어 있으며, 내부 전원전압의 변화범위(△+△')를 내부회로의 동작전원범위로 변화시키는 것밖에 인식되어 있지 않다. Therefore, in the activated state and operates at high speed than in the conventional circuit, the standby state, is recognized only thing that has been mentioned to be a low-power, change the change of the internal supply-voltage range (△ + △ ') to the operating power range of the internal circuit no.

또한 특개평10-229165호 공보에는, 스탠바이시에는 기판 바이어스 전압을 제어함과 동시에 전원전압을 제어하는 것에 의해, 기판 바이어스 전압의 변화량을 적게 하여 문턱치 전압의 변화를 얻도록 하고 있다. It also has Unexamined Patent 10-229165 discloses, in standby mode is by controlling the power supply voltage at the same time as controlling the substrate bias voltage, to reduce the amount of change in the substrate bias voltage so as to obtain a change in the threshold voltage.본 공지예에 있어서도, 박막 트랜지스터에 있어서는 상기 수단이 상승적으로 리크전류를 효과적으로 저감시킬수 있는 것에 대해서는 인식되어 있지 않고, 종래 기판 바이어스 전압을 변화시켜 얻은 변화량을 기판 바이어스 전압과 전원전압을 제어하는 것에 의해 얻는 것을 개시하고 있다. By also controlling the said means is a leak, without for not recognize what sikilsu reducing the current effectively, the conventional substrate bias voltage is the substrate bias voltage and the supply voltage to the change obtained by changing the synergistically in the thin film transistor in the known example It discloses to obtain.

상기의 과제를 해결하기 위해서 행한 주된 수단은, 적어도 하나의 M0S 트랜지스터로 이루어지는 제l의 피제어회로와, M0S 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 발생하는 기판 바이어스 제어수단을 구비하며, 기판 바이어스 제어수단을 제l의 상태에 설치하는 것에 의해 M0S 트랜지스터의 드레인·소스 사이에 비교적 큰 전류가 흐르는 것을 허용하고, 기판 바이어스 제어수단을 제2의 상태에 설치하는 것에 의해 M0S 트랜지스터의 드레인·소스 사이에 상기 비교적 큰 전류를 보다 작은 값으로 제어하는 반도체 집적회로장치에 있어서, 제2의 상태인 때에 제1의 피제어회로 에 주는 기판 바이어스의 값이 제1의 상태인 때보다도, PM0S 트랜지스터의 기판 바이어스에 대해서는 높은 전압치이고, NM0S 트랜지스터의 기판 바이어스에 대해서는 낮은 전압치이며, 제2의 The main unit performed in order to solve the above problems, at least one of a l of the controlled circuit, and includes a substrate bias control means for generating a substrate bias voltage of the M0S transistor, and substrate bias control means comprising a M0S transistor claim by providing the l state of allowing flowing a large current between the drain and source of M0S transistor, and substrate bias control means to claim that as to the drain-source of M0S transistor and the relatively larger by installation of the state of 2 a semiconductor integrated circuit device for controlling the current to a smaller value, the second state, when high for a first blood than when the value of the substrate bias voltage to the control circuit, the state of the first, substrate bias of PM0S transistor of chiyigo voltage, a low voltage value for the substrate bias of NM0S transistor, of the second태인 때에 제1의 피제어회로에 주는 전원전압이 제1의 상태인 때보다도 작은 값인 것을 특징으로 한다. When it is smaller than the value when the power supply voltage to the controlled circuit of the first state of the first Taein.

게다가 제3의 상태를 규정하고, 기판 바이어스 제어수단을 제2 또는 제3의 상태에 설치하는 것에 의해, M0S 트랜지스터의 드레인·소스사이의 상기 비교적 큰 전류를 보다 작은 값으로 제어한다. In addition, defining the state of the third and controls the substrate bias control means to the relatively large current value that is smaller than between the second or the drain of, M0S transistor by providing the third state, the source.이 때, 제2 또는 제3의 상태인 때에 제1의 피제어회로에 주는 기판 바이어스의 값이 제1의 상태인 때보다도 PM0S 트랜지스터의 기판 바이어스에 대해서는 높은 전압치이고, NM0S 트랜지스터의 기판 바이어스에 대해서는 낮은 전압치이다. At this time, the second or the third first object when the value of the substrate bias voltage to the control circuit, the state of a first of all high voltage chiyigo for the substrate bias of PM0S transistor, of when the state of for the substrate bias of NM0S transistor low voltage chiyida.

제2의 상태인 때에 제1의 피제어회로에 주는 전원전압이 제1의 상태인 때보다도 작은 값이고, 제3의 상태인 때에 제1의 피제어회로에 주는 전원전압은 제1의 상태인 때의 값과 같은 값으로 할 수도 있다. First and smaller than the value when the second state when the power supply voltage to the controlled circuit of claim 1, the state of the first and second power supply voltage that when the third state of the controlled circuit of claim 1, the state of the first It may be the same value as the value at the time.

게다가 제2의 피제어회로와, 이 제2의 피제어회로의 전원전압을 제어하는 제2의 전원전압 제어수단을 구비하고, 제1의 상태인 때에는 제2의 전원전압 제어수단은 제2의 피제어회로 중의 M0S 트랜지스터의 드레인·소스 사이에 비교적 큰 전류가 흐르는 것을 허용하며, 제2의 상태인 때에는 제2의 전원전압 제어수단은 상기 제2의 피제어회로 중의 M0S 트랜지스터의 드레인·소스 사이에 상기 비교적 큰 전류를 보다 작은 값으로 제어하고, 제2의 상태인 때에 제2의 피제어회로에 주는 전원전압이 제1의 상태인 때보다도 작은 값이도록 할 수도 있다. Moreover, the second controlled circuit, and a second power supply voltage control means that controls the power supply voltage of the second controlled circuit, and the power supply voltage control means of a second when the state of one of the second and allow flowing a large current between the controlled circuit of the drain and source of M0S transistor, between a power supply voltage control means of claim 2, when the 2-state of the drain and source of M0S transistor in the controlled circuit of the second to control the comparatively large current to a smaller value, and the on time of the second state when the power supply voltage to the controlled circuit is a second state of a first of all may be so small.

이 때, 제2의 피제어회로 중의 M0S 트랜지스터의 기판 바이어스는 기판 바이어스 제어수단에 의해서 제어되고 있고, 제2 또는 제3의 상태인 때에는 제1의 상태인 때보다도 PM0S 트랜지스터의 기판 바이어스에 대해서는 높은 전압치이며, NM0S 트랜지스터의 기판 바이어스에 대해서는 낮은 전압치이도록 할 수가 있다. At this time, the substrate bias of M0S transistor in the controlled circuit of claim 2, and is controlled by the substrate bias control means, the second or high for the substrate bias of all PM0S transistor when the state of the first when the third state of the and the voltage value, it is possible to lower voltage to che for the substrate bias of the transistor NM0S.

또한, 피제어회로에는 데이터 패스회로가 구비되어 있고, 제2의 전원전압 제어수단에 의해서 제어된 전원선의 데이터 패스회로 중에서의 최하층 금속배선층에 의한 전원네트와, 데이터 패스회로의 데이터 플로방향이 평행하여 있는 것도 바람직하다. Also, the controlled circuit, and is provided with a data path circuit, the data flow direction of the power net, and a data path circuit of the lowermost metal wire layer in from the power source line data pass circuit controlled by the second power supply voltage control means of the parallel it is preferred that the.

수치적인 예를 나타내면, 제l의 피제어회로를 구성하는 M0S 트랜지스터의 문턱치 전압이 0.5V이하이고, 제2의 상태인 때의 제1의 피제어회로의 전원전압은 1.0V이하이고 0.5V이상, 제2의 피제어회로를 구성하는 M0S 트랜지스터의 문턱치 전압이 0.5V이하이도록 구성할 수 있다. The numerical example indicates, and the threshold voltage of the transistors constituting the M0S controlled circuit of claim l or less 0.5V, the blood supply voltage of the control circuit of one of when the state of the second is 1.0V or less than 0.5V , there is the threshold voltage of the transistors constituting the M0S controlled circuit 2 can be configured to be less than 0.5V.

또한, 제2의 전원전압 제어수단에 의해서 제어된 제2의 피제어회로의 전원선은, 제2의 상태인 때에 0.5V 이하이다. Further, the power supply line of the second controlled circuit controlled by the power supply voltage control means of the second is less than 0.5V, when the state of the second.제2의 전원전압 제어수단에 의해서 제어된 제2의 피제어회로의 전원선은, 제1의 상태인 때에 비교하여 제2의 상태인 때는 그 임피던스를 5배 이상 높게 하는 것이 바람직하다. Second power supply line of the second controlled circuit controlled by the power supply voltage control means is for, when the state of 1, when the state of the second comparator it is preferred to the high impedance at least five times.

본 발명의 다른 관점에 의하면, MIS 트랜지스터를 포함하는 피제어회로와, MIS 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 제어하는 제1의 제어회로와, MlS 트랜지스터의 전원전압을 제어하는 제2의 제어회로와, 피제어회로의 상태를 제어하는 상태제어신호 입력수단을 가지고, 상태제어신호 입력수단으로부터 얻어지는 상태제어신 호에 기초하여 형성되는 단일 또는 복수의 제어신호에 의해 제1 및 제2의 제어회로를 제어한다. According to a further aspect of the invention, the controlled circuit, and a second control circuit that controls the power supply voltage of the control circuit and, MlS transistor of claim 1 for controlling the substrate bias voltage of the MIS transistor, blood including a MIS transistor It has a state control signal input means for controlling the state of the control circuit, and controls the control circuit of the first and second by a single or a plurality of control signals formed based on the state control signal obtained from the state control signal input means, .

또한, MIS 트랜지스터를 포함하는 피제어회로와, MIS 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 제어하는 제1의 제어회로와, MIS 트랜지스터의 드레인·소스간 전압을 제어하는 제2의 제어회로를 가지고, 제1의 제어회로를 제1의 상태에 설치하는 것에 의해 M0S 트랜지스터의 드레인·소스 사이에 비교적 큰 전류가 흐르는 것을 허용하며, 제1의 제어회로를 제2의 상태에 설치하는 것에 의해 M0S 트랜지스터의 드레인·소스 사이에 비교적 큰 전류를 보다 작은 값으로 제어하고, 제2의 제어회로는 제1의 제어회로가 제2의 상태에 설치되어 있는 기간의 적어도 일부의 기간에 있어서 M0S 트랜지스터의 드레인·소스간 전압이 낮게 되도록 제어한다. In addition, with a controlled circuit, and a control of claim 1 for controlling the substrate bias voltage of the MIS transistor circuit, and a control circuit of the second to control the voltage between the drain and source of the MIS transistor comprising a MIS transistor, a first and allowing a relatively large current to the drain-source of M0S transistor by providing a control circuit in the state of the first flow, the drain of M0S transistor by providing a control circuit of the first to the second state and the source the control circuit of a relatively large current to a value smaller than the control, and the second between this drain-to-source voltage of M0S transistors in at least part of the period with a control circuit of claim 1 installed in the second state and it controls so low.

또한, 회로중의 배선에 착안하면, CM0S 트랜지스터 회로를 포함하는 반도체집적회로장치에 있어서, CM0S 트랜지스터 회로의 소스·드레인경로에 접속된 제1 및 제2의 가상전원 배선과, CM0S 트랜지스터 회로를 구성하는 PM0S 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 제어하는 제1의 기판 바이어스 배선과, CM0S 트랜지스터 회로를 구성하는 NM0S 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 제어하는 제2의 기판 바이어스 배선과, 제어회로를 구비하고, 제어회로는 소정의 기간 제1 및 제2의 가상전원 배선 사이의 전위차가 작게 되도록 제어함과 동시에, 제1 및 제2의 기판 바이어스 배선의 전위차가 커지도록 제어한다. Further, when paying attention to the wiring in the circuit, CM0S transistor in the semiconductor integrated circuit device, which circuit comprises a, CM0S transistor source and configure the virtual power line of the first and the second connected to the drain path and, CM0S transistor circuit of the circuit the substrate bias of the second to control the substrate bias line and a substrate bias voltage of the NM0S transistors constituting the CM0S transistor circuit of claim 1 for controlling the substrate bias voltage of the PM0S transistor wiring and, and a control circuit, a control circuit which is and at the same time controlled to be smaller the potential difference between the predetermined period and the first virtual power supply line of the second, and controls so as to increase the potential difference between the first and second substrate bias line.

이 때, 제1의 가상전원 배선과 제1의 스위치를 통해 접속되고 제1의 기판 바이어스 배선과 제2의 스위치를 통해 접속된 제1의 전원배선과, 제2의 가상전원 배 선과 제3의 스위치를 통해 접속되며 제3의 기판 바이어스 배선과 제4의 스위치를 통해 접속된 제2의 전원배선을 갖도록 구성할 수가 있다. At this time, the first virtual power supply wiring and the first of a connected through a switch the first substrate bias line and the second virtual power supply times of the first power supply wiring and the second of the connection through the switch lines and the third connected via a switch and can be configured to have a power supply wiring of a second connection through a switch of the third substrate bias line and a fourth of.

더 구체적인 레이아웃으로서는, 제1∼제4의 스위치를 포함하는 스위치셀과, CM0S 트랜지스터 회로를 포함하는 복수의 셀을 제1 및 제2의 가상전원 배선 및 제1 및 제2의 기판 바이어스 배선을 따라 배치할 수가 있다. As a more specific layout, according to the first to fourth switch cell containing a switch, CM0S virtual power supply wiring and the substrate bias line of the first and second transistors of the circuit of the first and second plurality of cells containing the It can be placed.이 때, 제1 및 제2의 가상전원배선 및 제1 및 제2의 기판 바이어스 배선이 평행하게 배치되고, 제1 및 제2의 전원배선을 이들에 대하여 수직으로 배치하며, 스위치셀은 복수의 셀보다도 제1 및 제2의 전원배선에 가까운 위치에 배치할 수가 있다. At this time, the first and second virtual power supply wiring and the substrate bias line of the first and second of the two being arranged in parallel, first, and disposed perpendicular to the first and those of the power wiring of the second switch cells includes a plurality of cells than can be disposed at a position close to the power supply wiring of the first and second.

다른 예로서는, CM0S 트랜지스터 회로를 포함하는 반도체 집적회로장치로서, CM0S 트랜지스터 회로의 소스·드레인 경로에 접속된 제1 및 제2의 배선과, CM0S 트랜지스터 회로를 구성하는 PM0S 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 제어하는 제1의 기판 바이어스 배선과, CM0S 트랜지스터 회로를 구성하는 NM0S 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 제어하는 제2의 기판 바이어스 배선과, 제어회로를 구비하고, 제어회로는 소정의 기간 제1 및 제2의 배선 사이의 전위차가 작게 되도록 제어함과 동시에, 제1 및 제2의 기판 바이어스 배선의 전위차가 커지도록 제어한다. Another example, as a semiconductor integrated circuit device including a CM0S transistor circuit, CM0S transistor circuit of the source and the interconnection of the first and the second connected to the drain path, and for controlling the substrate bias voltage of the PM0S transistors constituting the CM0S transistor circuit Article comprising a substrate bias line and, CM0S transistor circuit substrate bias line, a control circuit of claim 2 for controlling the substrate bias voltage of the NM0S transistors constituting the first, and the control circuit is a predetermined period of time the first and the wiring of the second and at the same time controlled to be smaller the potential difference between, and controls so as to increase the potential difference between the first and second substrate bias line.

별도의 예로서는, MlS 트랜지스터를 포함하는 반도체 집적회로장치의 제어방법으로서, MlS 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 제어하는 것에 의해 M0S 트랜지스터의 드레인·소스 사이에 흐르는 서브드레시홀드 리크전류를 저감하는 제1의 동작을 행함과 동시에, MlS 트랜지스터의 드레인·소스간 전압을 감소시키는 제2의 동작을 행하는 것이고, 제1의 동작을 행하는 기간과 제2의 동작을 행하는 기간의 적어도 일부가 중복하도록 제어된다. Another example, a method of controlling a semiconductor integrated circuit device including a MlS transistor, operation of the first to reduce the subthreshold leakage current flowing between the drain and source of the M0S transistor by controlling the substrate bias voltage of MlS transistor the same time and doing, will perform a second operation of decreasing the drain-source voltage of the transistor MlS, at least a portion of the period during which the period and the operation in the second operation of performing a 1 is controlled so as to overlap.

더 발전한 예로서는, CM0S 트랜지스터 회로를 포함하는 제1 및 제2의 회로블록을 가지고, 각 회로블록은 CM0S 트랜지스터 회로의 소스·드레인 경로에 접속된 제1 및 제2의 배선과, CM0S 트랜지스터 회로를 구성하는 PM0S 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 제어하는 제1의 기판 바이어스 배선과, CM0S 트랜지스터 회로를 구성하는 NM0S 트랜지스터의 기판 바이어스 전위를 제어하는 제2의 기판 바이어스 배선을 가지며, 제1의 회로블록에 있어서는 소정의 기간 제1 및 제2의 배선중의 적어도 한쪽에 공급되는 전압이 변화함과 동시에, 제1 및 제2의 기판 바이어스 배선의 전위차가 커지도록 제어되며, 제2의 회로블록에 있어서는 소정의 기간 제1 및 제2의 배선중의 적어도 한쪽에 공급되는 전압이 차단된다. More advanced examples, CM0S transistor circuit has a first and a circuit block of the second containing, each circuit block is configured for interconnection with, CM0S transistor circuit of the first and the second connected to the source-drain path of CM0S transistor circuit having a substrate bias line and a substrate bias line of the second for controlling the substrate bias voltage of the NM0S transistors constituting the CM0S transistor circuit of claim 1 for controlling the substrate bias voltage of the PM0S transistor, a predetermined in the circuit block of the first also the period the voltage change which is supplied to at least one of the first and the wiring of the second and at the same time, the first and is controlled so as to increase the potential difference between the substrate bias line of the second, in the circuit block of the second predetermined period of time and the voltage supplied to at least one of the first and the second wiring is cut off.

본 발명의 상기 및 그외의 목적, 특징과 잇점은 첨부 도면과 함께 바람직한 실시예의 상세한 설명으로부터 더욱 명백해질 것이다. These and other objectives of, features and advantages of the invention will become more apparent from the following detailed description of preferred embodiments in conjunction with the accompanying drawings.

상태제어선(103)이「L」인 때, 전원전압 제어회로(101)에 의해 vdd에는 1.8V, vss에는 0V가 인가된다. When state control line 103 is "L", the power supply voltage vdd by the control circuit 101 is 1.8V, vss is applied to 0V.또한, 기판 바이어스 제어회로(102)에 의해 vbp에는 l.8V, vbn에는 0V가 인가된다. Also, vbp by the substrate bias control circuit 102 l.8V, vbn is applied to 0V.회로(100)는 액티브상태로 되고 고속동작이 가능하다. Circuit 100 is in the active state and high speed operation is therefore possible.

한편 상태제어선(103)이「H」인 때, 전원전압 제어회로(101)에 의해 vdd에는 0.9V, vss에는 0V가 인가된다. The state control line 103 at this time is "H", the power supply voltage vdd by the control circuit 101 is 0.9V, vss is applied to 0V.또한, 기판 바이어스 제어회로(102)에 의해 vbp에는 3.3V, vbn에는 -2.4V가 인가되고, 회로(100)는 스탠바이상태로 된다. Further, by the substrate bias control circuit (102) is 3.3V vbp, vbn is applied to the -2.4V, circuit 100 is the standby state.이 상태에서는, In this state,

본원 발명은 전원전압의 제어와 기판 바이어스의 제어의 상승효과를 이용하고 있어, 드레인·소스간 전압이 작게 되는 상태와 기판 바이어스를 깊게 하는 상태가 중복되는 기간이 있으면, 그 범위에 있어서 서브드레시홀드 리크전류 저감의 효과를 얻을 수 있다. The invention here utilizes a synergistic effect on the control of the control of the power supply voltage and substrate bias voltage, if the period in which the condition to deepen the state with the substrate bias to be smaller the voltage between the drain and source redundancy, subthreshold in its scope it is possible to obtain the effect of reducing the leakage current.각 상태로 이행할 때의, 전원전압치를 변화시키는 타이밍과 기판 바이어스치를 변화시키는 타이밍에 관하여는, 어느 쪽을 먼저 변화시키더라도 좋다. At the time of transition to each mode, with regard to the timing of changing the value and timing of changing the substrate bias value of power source voltage is good even when a change which first.

유의점으로서는, 각 상태로 이행시키는 것으로 회로(100)가 오동작하지 않도 록 하는 것이 바람직하다. Examples of considerations, it is to be preferred to lock the circuit 100 so that it does not malfunction to transition to each mode.예를 들면, 회로(100)의 동작이 완전히 정지하고 나서 각 상태로 이행시킨다고 하는 제어도 유효하다. For example, it is also effective to control sikindago transition to each mode the operation of the circuit 100 after a full stop.이행중은 전원전압이나 기판 바이어스치가 변화하기 때문에, 회로(100)의 지연특성 등도 변화한다. Since the implementation of the values ​​is to change the power supply voltage and the substrate bias, and changing also the delay characteristics of the circuit 100.회로(100)의 동작마진이 그것들의 전압변동에 대하여 충분히 여유가 있는 것이면, 회로(100)를 동작시킨 채 각 상태로 천이시키는 것이 가능하지만, 통상은 동작중에 각 상태로 천이시키는 것은 오동작의 원인으로 될 우려가 있다. Generally the operation margin of the circuit 100 as long as there is sufficient margin with respect to those of the voltage change, while that operation the circuit 100 is possible to transition to each mode, but is not the cause of the malfunction of transition to each state in the operation there is a possibility to.

또한, 회로(100)의 동작이 액티브시의 전원전압치와 기판 바이어스치로 밖에 보증되지 않는 경우에는, 스탠바이상태로부터 액티브상태로 천이한 때에 회로(100)를 동작하기 시작하는 것은 전원전압치와 기판 바이어스치가 액티브상태의 값으로 확정한 것을 검출하고 나서 할 필요가 있다. Further, when the operation of the circuit 100 that is not guaranteed only value the power supply voltage and the substrate bias at the time of the active, the thing that from the stand-by state starts to operate the circuit 100, when a transition to the active state, the power voltage and the substrate bias value, it is necessary to after detecting that a confirmation to the value of the active state.이 검출은 각 전압치를 모니터하더라도 좋고, 타이머 등으로 각 전압치가 소정의 전압으로 되기까지의 시간만큼 기다린다고 하는 방법이라도 좋다. This detection is good, even if the monitor value of each voltage, the timers may be a method for each voltage value to wait as much time until a predetermined voltage.어느 쪽의 방법에 의해서도 회로(100)의 오동작을 막을 수 있다. By a method in which it is possible to prevent the malfunction of the circuit 100.

또, 도 2에는 상기한 전원계 및 기판 바이어스계의 신호 이외의 신호배선 등은 특히 기술하지 않고 있지만, 그 구성은 특히 한정하지 않는다. In Fig 2, but the above-described power source system and the signal line of the signal other than the substrate bias system and the like without particular technique, the configuration is not limited in particular.

도 3은, 도 2의 실시예의 회로의 액티브시 및 스탠바이시에서의 제어방식을 나타낸다. Figure 3, also illustrates a control system in the active mode and the standby time of the circuit of the second embodiment.회로(CKT2)가 액티브상태인 때에는 회로(CKT2)의 전원단자(vdd)에 1.8V를 공급한다. When circuit (CKT2) in the activated state supplies the 1.8V to the power supply terminal (vdd) of the circuit (CKT2).1.8V의 급전은 DC-DC 컨버터(DC2)에서 발생한 전압을 다이오드(DCl0)로 강압(降厭)한 후에 급전하는 것으로 행한다. The power supply of 1.8V is carried out by the power supply after the step-down (降 厭) the voltage generated in the DC-DC converter (DC2) with a diode (DCl0).다이오드 1개분의 전압강하(Vf)는 약 0.6V이다. Voltage drop (Vf) of the diodes 1 minutes is about 0.6V.따라서, 3개의 다이오드(D11∼Dl4)의 전압강하는 2.4V로 되고, V11의 전위가 1.8V가 되도록 DC-DC 컨버터(DC2)가 동작하면 다이오드(D1l∼D14)는 오프(off)상태가 된다. Thus, the three diodes (D11~Dl4) the voltage drop is as 2.4V, the potential of V11 so that the DC-DC converter when 1.8V (DC2) the operation of the diode (D1l~D14) is turned off (off) state do.한편, 회로(CKT2)를 구성하는 M0S 트랜지스터의 기판 바이어스(vbp, vbn)에는, 기판 바이어스 제어회로(STBCl)에 의해 각각 1.8V 및 0V가 인가된다. On the other hand, is applied to each of 1.8V and 0V by the circuit, the substrate bias (vbp, vbn) of the transistors constituting the M0S (CKT2), ​​the substrate bias control circuit (STBCl).

회로(CKT2)가 스탠바이상태 1인 때에는, 회로(CKT2)의 전원단자(vdd)에 액티브상태와 마찬가지로 1.8V를 공급한다. When circuit (CKT2) is in standby mode 1, and supplies the 1.8V as in the active state to the power supply terminal (vdd) of the circuit (CKT2).한편, 회로(CKT2)를 구성하는 M0S 트랜지스터의 기판 바이어스(vbp, vbn)에는, 기판 바이어스 제어회로(STBC1)에 의해 각각 3.3V 및 -1.5V가 인가된다. On the other hand, is applied to each of 3.3V and -1.5V by, the substrate bias control circuit (STBC1) M0S substrate bias of the transistors constituting the circuit (CKT2) (vbp, vbn).기판 바이어스 효과에 의해 회로(CKT2)를 구성하고 있는 M0S 트랜지스터의 문턱치가 높아지기 때문에, 회로(CKT2)의 서브드레시홀드 리크전류에 의한 소비전력 증가를 억제할 수 있다. Due to high M0S the threshold of the transistor constituting the circuit (CKT2) by the substrate bias effect, it is possible to suppress increase in power consumption due to the subthreshold leakage current of the circuit (CKT2).

또한 회로(CKT2)가 스탠바이상태 2인 때에는, 스탠바이 제어회로(STBC2)가 DC-DC 컨버터(DC2)를 오프(off)시키고, 다이오드(D10)를 통한 1.8V의 급전을 정지시킨다. In addition, when the circuit (CKT2) in standby mode 2, the standby control circuit (STBC2) is turned off the DC-DC converter (DC2) (off) and, it stops the power supply of 1.8V through a diode (D10).이것에 의해 V11의 전위가 저하하지만, 다이오드(D11∼Dl4)로 이루어지는 패스가 온(on)하는 것으로 V11의 전위는 0.9V(=3.3V-0.6V×4) 이하로는 내려 가지 않는다. To this, the potential of V11 decreases due, however, the potential of V11 by the path consisting of the diode (D11~Dl4) On (on) does not go down it is less than 0.9V (= 3.3V-0.6V × 4).결과적으로는, CKT2의 전원단자(vdd)에는 0.9V가 공급된다. Consequently, it is supplied with the 0.9V power supply terminal (vdd) of CKT2.한편, 회로(CKT2)를 구성하는 M0S 트랜지스터의 기판 바이어스(vbp, vbn)에는, 스탠바이상태 1인 때와 마찬가지로 기판 바이어스 제어회로에 의해 각각 3.3V 및 -1.5V가 인가된다. On the other hand, the substrate bias circuit (vbp, vbn) of the transistors constituting the M0S (CKT2), ​​are respectively 3.3V and -1.5V by the substrate bias control circuit just as in standby mode 1 is applied.

먼저 기술한 바와 같이, 게이트 길이(Lg)가 짧은 M0S 트랜지스터의 서브드레시홀드 리크전류는, As a first technique, the gate length (Lg) The subthreshold leakage current of the transistor is short M0S,

(1) 게이트전압만이 아니라 드레인전압에 대하여도 지수함수적으로 변화한다. (1) not only the gate voltage also with respect to the drain voltage exponentially changes.

스탠바이상태 2에서는, 상기(1) 및 (2)에 의해 DIBL 현상의 효과가 크게 되고, 스탠바이상태 2에서는 스탠바이상태 1 보다도 서브드레시홀드 리크전류에 의한 회로(CKT2)의 소비전력증가를 억제할 수 있다. In standby mode 2, and the effect of the DIBL phenomenon significantly by the above-mentioned (1) and (2), in the standby mode 2 standby mode 1 than to suppress the increase in power consumption of the circuit (CKT2) due to the subthreshold leakage current have.또한, 도 19에 나타난 바와 같이 트랜지스터의 오프(off)시에 GIDL 전류가 흐르지 않는 것에 의해서도, 스탠바이상 태 2에서는 리크전류의 삭감이 가능하게 되어 있다. Further, it is possible to reduce the leakage current also by GIDL current when off (off) of the transistor does not flow, in the standby state 2 as shown in Fig.

특히 스탠바이상태 3에 있어서는, 상기 (2)와 같이 회로(CKT2) 중의 M0S 트랜지스터에는 스탠바이상태 1인 때 보다도 깊은 기판 바이어스가 인가되어 있지만, M0S 트랜지스터의 드레인·웰 또는 웰·웰간의 전압은 전원전압(vdd)이 감소하고 있기 때문에 스탠바이상태 1인 때와 같다. In particular, in the standby mode 3, M0S transistor, but all is applied to the deep substrate bias when in standby mode 1, the voltage between the drain of M0S transistor-well or well-well of the circuit (CKT2) as in (2) above is the power supply voltage since (vdd) is reduced as follows when in standby mode 1.따라서, 이 깊은 기판 바이어스의 인가에 의해서 M0S 트랜지스터의 드레인·웰 또는 웰·웰 사이에 큰 전위차를 생기게 하는 것이 아니다. Therefore, not for causing a large potential difference between the drain-well or well-well of transistor M0S by the application of a deeper substrate bias.이것에 의해, pn접합에 흐르는 접합리크를 증가시키는 일 없이 기판 바이어스를 깊게 인가할 수 있다고 하는 효과가 있다. As a result, there is an effect that it is possible to apply a deeper substrate bias one without increasing the junction leakage passing through the pn junction.

도 2에서 회로(CKT1)는, 회로(CKT0)가 회로(CKT0)의 외부에 설치되어 있는 다른 디바이스와의 사이에서 신호의 교환을 할 때에 사용하는 I/O회로를 사용하는 것이 알맞다. Circuit in Figure 2 (CKT1), the circuit (CKT0) is suitable to use an I / O circuit used upon the exchange of signals to and from another device installed in the external circuit (CKT0).I/O전압은 외부 디바이스와의 사이에서 결정된 어떤 범위내의 값으로 할 필요가 있기 때문에, I/O전압은 vdd전압이 스탠바이상태 2 또는 스탠바이상태 3에서 변화한 경우라도 어떤 결정된 값이 아니면 문제점이 생긴다. I / O voltage is because it is necessary to set at a value in a certain range, I / O voltage even when the vdd voltage change in standby mode 2 or standby mode 3 is not a certain determined value problem determined to and from an external device It occurs.vddq전압 3.3V는, 상기 스탠바이상태 2 또는 스탠바이상태 3인 때라도 전압치가 변화하지 않기 때문에, I/O회로의 전원전압으로서 사용할 수 있다. vddq voltage is 3.3V, even in the standby mode 2 or standby mode 3 in the voltage value does not change, can be used as a power supply voltage of the I / O circuit.

이상과 같이 본 발명에서는, 스탠바이시에 기판 바이어스를 액티브시 보다도 깊게 인가하고, 게다가 그 회로에 공급하는 전원전압을 낮게 한다. In the present invention, as described above, applying a substrate bias deeper than in the standby mode when active, and furthermore a low power supply voltage to be supplied to the circuit.종래예과 같이 단순히 기판 바이어스를 스탠바이시에 인가한 것과 비교하면, 상기 DIBL 현상에 의한 효과에 의해 서브드레시홀드 리크전류를 대폭 현상시킬 수 있다. Compared to that applied at the time the substrate bias simply as conventional Pre-stand, can be greatly develops the subthreshold leakage current by the effect of the DIBL phenomenon.게다가, M0S 트랜지스터의 드레인·웰 또는 웰·웰 사이의 pn접합의 전위차를 그다지 크게 하지 않고(pn접합리크를 크게 하지 않고) 기판 바이어스를 종래 방식과 비교하여 깊게 할 수 있다. In addition, it is possible to deepen and without much increasing the potential difference of the pn junction of the drain-well or well-well of transistor M0S (without increasing the pn junction leakage) compared to the substrate biases to the conventional method.또한, 기판 바이어스 효과에 의해 문턱치 전압을 높게 하여 서브드레시홀드 리크전류를 저감할 수 있는 것에 더하여, 이 깊은 기판 바이어스에 의해 상기 DlBL현상에의한 서브드레시홀드 리크전류 감소효과를 더욱 크게 할 수 있다. In addition, increasing the threshold voltage by the substrate bias effect the subthreshold leakage addition to being capable of reducing the current, can be made by a deep substrate bias and more significantly the subthreshold leakage current reduction effect in the DlBL phenomenon .또한, GIDL 전류에 의한 리크전류의 증대도 억제할 수 있다. In addition, the increase in leakage current due to the GIDL current can be suppressed.

전원전압을 낮게 한 때의 기판 바이어스치에 관하여는, 그 값은 특별히 한정하지 않는다. With respect to the substrate bias value when a low supply voltage, the value is not particularly limited.전원전압이 낮게 되는 스탠바이상태인 때에, 액티브상태인 때보다도 깊게 기판 바이어스가 인가되어 있으면 좋다. When in a standby state in which a low power source voltage, than when in the activated state may be deeper if it is applied to the substrate bias.

스탠바이시에 전원전압을 낮게 할 때의 전원전압치에 관하여는, 그 전원전압이 인가되는 회로내의 메모리회로(래치나 SRAM 또는 레지스터 등의 정보를 기억하고 있는 회로)의 기억내용이 소거되지 않는 전원전압치이면 좋다. About the power supply voltage at the time of low power supply voltage to the standby mode is, the stored contents are not erased power of the memory circuit (a circuit that stores information, such as a latch or SRAM or register) in the power supply voltage applying circuit which If the voltage value is good.또는, 소프트에러에 대하여 충분한 내성이 있는 전압치이면 좋다. Or may if the voltage value that has sufficient resistance to soft errors.전원전압치가 너무 낮게 되면 상기 기억내용의 유지가 어렵게 되기 때문에, 도 1이나 도 2의 실시예에서는 0. 9V로 설정하였다. When the power supply voltage value is too low, because the holding of the stored contents is difficult, Fig. 1 or the embodiment of Figure 2 was set to 0. 9V.이 최저 전압치는 회로를 구성하는 M0S 트랜지스터의 문턱치 전압에도 의존하기 때문에, 여기서는 특별히 한정하지 않는다. Since this depends on the threshold voltage of the transistors constituting the M0S lowest voltage value circuit, therefore it is not particularly limited.

메모리회로에 기억되어 있는 내용을 유지할 수 있는 전원전압치로 설정하는 것으로, 스탠바이상태 2나 스탠바이상태 3으로부터 액티브상태로 이행한 때에, 스탠바이상태로 이행하기 전의 상태로 완전히 복귀할 수가 있다. By setting the power supply voltage value that can maintain the contents stored in the memory circuit, when the transition from standby mode 2 or standby mode 3 to active mode, it is possible to completely return to the state before transition to the standby state.스탠바이상태와 액티브상태의 천이시간을 짧게 할 수가 있다. It is possible to shorten a transition time of the stand-by state and the active state.

또한 게다가, 스탠바이상태 2 또는 스탠바이상태 3의 상태에서는 서브드레시홀드 리크전류 또는 pn접합 리크전류(GIDL 전류를 포함한다)가 작기 때문에, 전원(vdd)에 흐르는 전류치에 의해서 회로(CKT0)의 반도체 집적회로장치의 선별을 하는 IDDQ 테스트가 용이하게 된다고 하는 특징이 있다. In addition, In addition, in the standby mode 2 or standby mode 3 state subthreshold leakage current or the pn junction (including the GIDL current) the leakage current is small Therefore, the semiconductor integrated circuit (CKT0) by the current flowing to the power supply (vdd) It is characterized in that the selection of the circuit device IDDQ test is to facilitate.또, pn접합 리크전류의 영향을 해결하는 별도의 방법으로서, IDDQ 테스트에 따르는 전원전류측정을 전원전 류의 측정과 동시에 기판에 흐르는 기판전류를 측정하여 연산에 의해 산출하는 방법도 생각되지만, 이하에 나타내는 본 발명의 수법으로 행하면 보다 간단히 IDDQ 테스트가 실현된다. Further, pn junction, as a different way to solve the influence of the leakage current, but to the power supply current measurement according to the IDDQ test measuring the substrate current flowing through the measuring and at the same time, the substrate of the power source current I a method of calculation by the calculation, the following performed by approach of the present invention is shown in more simply achieve the IDDQ test.

IDDQ 테스트란, 트랜지스터가 스위칭(switching)을 하고 있지 않는 정지시에 칩의 전원전류를 측정하여 고장의 유무를 검출하는 테스트 수법이다. IDDQ testing is a testing method to measure the power supply current of the chip transistor is at the time of stopping does not have a switching (switching) for detecting whether there is failure.고장이 없으면, 정지시에는 약간의 전류가 흐를 뿐이다. If there is no failure, only stopping when some of the current flows.고장이 있으면, 큰 전류가 흐른다. If this fails, a large current flows.LSI의 테스트수법으로서 주류의 기능 테스트(Function test)에 비하면, 적은 테스트 패턴으로 많은 고장을 검출할 수 있다고 하는 특징을 갖는다. As a test method of the LSI test as compared to the (Function test) of alcohol functions, it characterized in that it is possible to detect the number of failure a small test pattern.그러나 발명자에 의해, 종래의 IDDQ 테스트에는 이하와 같은 문제가 있는 것이 판명되었다. However, by the inventors, the conventional IDDQ test has been found out that the following problems.

(A) 저문턱치 트랜지스터로 구성된 LSI에서는, 트랜지스터가 스위칭을 하고 있지 않는 정지시에도 서브드레시홀드 리크전류에 의한 리크전류가 흐르기 때문에, 고장에 따른 전류와 상기 서브드레시홀드 리크전류에 의한 리크전류의 구별이 되지 않게 되어 IDDQ 테스트가 곤란하게 된다. (A) of the leakage current by the electric current and the subthreshold leakage current corresponding to the LSI is configured of a low threshold transistor, because even when stopping transistor does not have a switch to flow the leakage current due to the subthreshold leakage current, breakdown this distinction is no longer the IDDQ test is difficult.한편, IDDQ 테스트시에 기판 바이어스를 인가하여 상기 서브드레시홀드 리크전류에 의한 리크전류를 삭감하는 수법으로는, 이번에는 상기 pn접합 리크전류(GlDL 전류를 포함한다)에 의해서 IDDQ 테스트가 곤란하게 된다. On the other hand, by applying the substrate bias voltage at the time of the IDDQ test method for reducing the leakage current due to the subthreshold leakage current, but this time the IDDQ test by (including GlDL current), the pn junction leakage current is difficult .

(B) 기능테스트와 비교하여, IDDQ 전류의 측정에 시간을 요하기 때문에 테스트 비용이 증가한다. (B) compared with the function test, and the test cost is increased because the amount of time required for the measurement of IDDQ current.

(A)의 문제는, IDDQ 테스트로 전류를 측정할 때에 본 발명의 스탠바이상태 2 또는 스탠바이상태 3의 상태에서 측정하는 (이하, 본 발명의 IDDQ 전류 측정방법이 라고 부른다) 것으로 해결할 수 있다. Problem of (A), can be solved when the measurement of the current in the IDDQ test (referred to as the IDDQ current measurement method of the following, the invention) for measuring the state in the standby mode 2 or standby mode 3 of the invention.이 방법에 의해, 고장나 있는 경우에 전원(vdd)에 흐르는 전류와, 정상인 경우에 전원(vdd)에 흐르는 전류의 비가 커지기때문에 고장검출이 용이하게 된다. By the way, it is easy because the failure detection failure or if the current, flowing in the power supply (vdd) of the current flowing in the power ratio increases (vdd) to the normal case.

한편, 에이징은 칩에 통상보다도 높은 전압 또는 때로는 낮은 전압을 인가하여, 칩에 대하여 지나친 조건을 부과하여 초기불량을 나타나게 하는 것이다. On the other hand, the aging is that by applying a voltage higher than the normal or sometimes low voltage to the chip, to impose an excessive condition for the chip appear to initial failure.에이징시의 온도조건등에 관하여는 특별히 여기서는 한정하지 않는다. About the temperature conditions at the time of aging it is not particularly limited here.또한, 칩을 동작시켜 에이징을 하는 방법과, 동작시키지 않고 에이징을 하는 방법이 있지만, 여기서는 특별히 이것도 한정하지 않는다. Furthermore, although the chip by operating the method of aging, a method for aging without operation, therefore is not particularly limited and this also.또한, 에이징을 가속테스트 또는 바잉이라고 하는 것은, 여기서는 동일한 것을 의미하는 것으로 한다. Also, as to the aging acceleration testing or Buying, here it is assumed to mean the same thing.

게다가, 에이징시에 기판 바이어스를 인가하는 방법과 인가하지 않는 방법이 있지만, 특별히 그것도 한정하지 않는다. In addition, although the method and the method is not applied for applying a substrate bias during the aging, it is also not specifically limited.서브드레시홀드 리크전류는 고온으로 되면 증가하는 경향이 있기 때문에, 고온에서 에이징하는 경우에는 서브드레시홀드 리크전류에 의한 열폭주의 위험성이 있다. Since the subthreshold leakage current tends to increase when a high temperature, in the case of aging at a high temperature, there is a risk of thermal runaway due to the subthreshold leakage current.그래서, 기판 바이어스를 인가하여 에이징하면 서브드레시홀드 리크전류를 감소시킬 수 있어, 열폭주를 막을 수 있다. Thus, aging is applied to the substrate bias can reduce the subthreshold leakage current, it becomes possible to prevent a thermal runaway.

이 에이징과 IDDQ 테스트의 관계에 관해서, 이하와 같은 2종류의 방법을 선택할 수 있다. As for the relation between the aging and the IDDQ test, it is possible to select the two kinds of methods as follows.

(1) 에이징을 행한 후에 칩의 전류치를 측정하여 불량선별을 한다. (1) the poor screening by measuring the current value of the chip subsequent to the aging.

(2) 에이징의 전후에서 칩의 전류치를 측정하여, 전류치의 차이에 의해서 불량선별을 한다. (2) by measuring the current value of the chips before and after the aging, and a defect selected by the difference of the current value.

(2)의 방법에서는 (1)의 방법과 비교하여 에이징에 의해서 잠재적 불량의 가 속을 검출하기 쉽다고 하는 이점이 있다. In the method (2) it has the advantage of the easy to detect the speed of a potential defect by aging compared with the method (1).한편 (l)의 방법은 1회의 전류측정으로 불량선별이 가능하여, 테스트시간을 삭감할 수 있다고 하는 이점이 있다. The method of (l) has the advantage that it is possible to defective selected by one current measurement is possible by, reducing the test time.상기(1)(2)의 양쪽의 전류측정에서 본 발명의 IDDQ 전류측정 방법을 사용할 수 있다. The IDDQ current measurement method of the present invention in the current measurement of both of the above (1) (2) may be used.

도 16에 (1)의 수법에 관해서, 그 플로의 일례를 플로우챠트로 나타낸다((2)의 수법에 관해서도 마찬가지로 행할 수 있기 때문에, 여기서는 설명을 생략한다). (And because it can be carried out similarly to the method of (2), in this case will not be specifically described herein), also as to the method of 16 (1), an example of the flow shown in the flowchart.우선 스텝(1601, 1602)에서 전원전압을 통상 동작전압인 1.8V보다도 높게 하여 에이징을 행하여, 고장을 나타나게 한다. First, step 1601 and 1602, a power supply voltage higher than the normal operation voltage of 1.8V on by performing the aging, appears to the fault.다음에 스텝(1603, 1604)에서, 전원전압을 통상 동작전압보다도 낮게 하고 게다가 기판 바이어스를 인가하여 전류측정을 한다(본 발명의 IDDQ 전류측정방법). And then the step (1603, 1604), for a low power supply voltage than the normal operating voltage, and also the current measured by applying a substrate bias (IDDQ current measurement method of the present invention).스텝(1605)에서, 측정한 전류치가 어떤 값보다도 크면 불량품으로서 선별한다. In step 1605, the measured current value is larger than a certain value will be selected as a defective product.그 후, 양품의 것은 스텝(1606, 1607)에서 칩에 통상 전원전압을 인가하고, 게다가 기판 바이어스를 인가하지 않고서 기능테스트(Function test)를 한다. After that, it is of a non-defective product without applying the usual power voltage is applied to and, in addition to the chip substrate bias at the step (1606, 1607) and the function test (Function test).그 후 스텝(1608)에서 그 기능테스트 결과에 따라서 선별을 한다. Thereafter, the screening function in accordance with the test result in step 1608.스텝(1601∼1607)의 주위온도 등의 환경에 관하여는 특별히 한정하지 않는다. It is not particularly limited with respect to such as ambient temperature of the step (1601-1607) environment.

여기서, 스텝(1602)에서의 테스트 프로그램의 실행에 의해서, 칩의 선별을 하더라도 좋다. Here, by the execution of the test program in step 1602, it may be the screening of the chip.또한, 이 테스트 프로그램의 실행에는, IDDQ 테스트에 앞서는 칩에의 테스트 패턴(test pattern) 입력을 포함하더라도 좋다. Further, execution of the test program, may be included a test pattern (test pattern) input to the chip prior to the IDDQ test.어떤 종류의 스캔을 사용하여 테스트 패턴을 입력하는 경우에도 스텝(1602)에서 그 입력을 할 수 있다. Even if the input test pattern by using some type of scan may be the input in step 1602.게다가, 스텝(1606)의 칩의 전원전압은 칩의 동작 전원전압 범위의 안에서, 가장 나쁜 조건(예를들면 vdd=l.6V)을 선택하여도 좋다. In addition, the power supply voltage of the chip of the step (1606) may be by selecting the inside of the operating power supply voltage range of the chip, the worst condition (vdd = l.6V for example).

게다가 또, 예컨대 스텝(1605)에서 선별하기 위해서는, 어떤 절대치보다도 큰 전류가 흐른 경우에 고장으로 판단하는 수법이라도 좋지만, 반도체 집적회로장치가 어떤 제조단위로 제조되어 있는 경우에는 그 제조단위(예컨대 로트 또는 웨이퍼 단위)안에서 통계를 잡아 제조단위내에서 통계적으로 표준치보다도 어긋난 전류치(예컨대 3σ이상 어긋난 전류치)를 나타낸 것을 불량으로서 판단하면 좋다. In addition, In addition, for example, to selected at step 1605, but even a method of determining a failure if any absolute value than a large current flows, a semiconductor integrated circuit device is a production unit (e.g., the lot if it is made of any manufacturing unit or statistically standard value than the current value is deviated (for example, may be determined that shows the current value is deviated more than 3σ) as defective in the manufacturing unit to hold the wafer in the statistics unit).또는 상기 두개의 방법 양쪽을 사용하여 판단하면 좋다. Or it may be determined using both the two methods.리크전류는 M0S 트랜지스터의 문턱치 전압이 분산되면 크게 변화하기 때문에, 제조단위로 크게 분산된다. When the leakage current is the threshold voltage of the transistor it is dispersed M0S because changes significantly, it is largely distributed to the manufacturing unit.그러나, 같은 제조단위내이면 비교적 균일한 특성을 나타내기 때문에, 상기 통계적인 불량판정이 유효하게 된다. However, if the manufacturing units, such as to indicate a relatively uniform characteristics, that the statistical failure determination is effective.

IDDQ 테스트의 두번째의 문제점인 (B)에 관하여는, 칩의 전원전류를 측정하는 IC 테스터(tester)등의 전류측정장치의 개량에 의해 어느 정도 해결되지만, IDDQ 테스트에 앞서 기판 바이어스를 변화시키는 경우에는, 기판을 구동하기 위한 시간이 새롭게 필요하다. With respect to the second problem in (B) of the IDDQ test, to some extent resolved, but by improving the current measuring device such as an IC tester (tester) for measuring the supply current of the chip, in the case of changing the substrate bias prior to the IDDQ test There, there is a need for a new time for driving the substrate.기판전압을 그 칩내부에서 발생시키는 경우(예를 들면 도 1에서, 기판 바이어스 제어회로(STBC1)내에 전압발생 회로가 있는 경우)에는, 일반적으로 칩내의 전압발생 회로의 구동능력은 크지 않기 때문에, 기판을 소망의 전압까지 구동하는데에는 비교적 긴 시간을 요한다. When generating a substrate voltage in the interior of the chip, because (for example 1, the substrate bias control circuit (when the voltage generating circuit in the STBC1)) is, since generally greater is the driving capability of the voltage generating circuit in the chip, It takes a relatively long time to drive the substrate to the desired voltage.

이 과제를 해결하기 위해서, 도 17의 실시예에서는 기판 바이어스용의 전원을 칩 외부로부터라도 공급할 수 있도록 한다. In order to solve this problem, the embodiment of Figure 17 is to be capable of supplying the power for the substrate bias, even from outside the chip.도 17에서, 1700은 칩을 나타내고 있다. In Figure 17, 1700 shows a chip.이 칩(1700)은 전원패드(1701, 1702)에 더하여, 기판패드(1703, 1704)를 가 지고 있다. The chip 1700 is becoming the substrate pad (1703, 1704), in addition to the power supply pad (1701, 1702).

전원패드(1701, 1702)는 회로의 전원단자에, 기판패드(1703, 1704)는 회로를 구성하고 있는 트랜지스터의 기판단자에 각각 접속되어 있다. Power source pads 1701 and 1702 are connected to the substrate terminal of the transistor in the substrate and pad (1703, 1704), the power terminal of the circuit constituting the circuit.1706은 특별히 필요하지 않지만, 도 2의 기판 바이어스 제어회로(STBC1)에 상당하는 것으로, 칩내부에 있는 기판 바이어스 제어회로이다. 1706 are not particularly required, that corresponding to the substrate bias control circuit (STBC1) of Figure 2, a substrate bias control circuit in the chip.1705는 칩중의 회로의 예이지만, 여기서는 간단화를 위해 CM0S 인버터의 예를 도시하고 있다. 1705 Although the example of the chipjung circuit, in this case shows an example of CM0S inverter for simplifying.

IDDQ 테스트시에는 칩외부에서 전원패드(1701, 1702)에 전압을 공급함과 동시에, 기판패드(1703, 1704)에도 전압을 공급한다. During the IDDQ test, the supply voltage even at the same time and supplies the voltage to the power supply pad 1701 and 1702 from the outside of the chip, the substrate pads (1703, 1704).일반적으로 칩외부의 장치(예컨대 IC 테스터 등)의 전압공급능력은 높기 때문에, 짧은시간에 전원전압과 기판 바이어스의 값의 양쪽의 값을 소망의 값으로 안정시킬수 있다. In general, since the high voltage is a supply capability of the chip to the external device (e.g., IC tester or the like), and sikilsu stabilize the value of both the value of the short time power supply voltage and the substrate bias to a desired value.

또 이 칩을 패키징(packaging)할 때에는, 전원패드는 패키지의 핀에 본딩등으로 접속된다. In addition to this, when the chip packaging (packaging), the power supply pad is connected to the bonding such as in a package pin.기판패드(1703, 1704)는 패키지의 핀에 본딩등으로 접속할 필요는 특별히 없지만, 예컨대 IDDQ 테스트의 전에 칩을 패키징하여 동작시킬 필요가 있는 경우는 접속하면 좋다. But especially it is required to be connected to the substrate pads (1703, 1704) is bonded to the package pin, for example, should be performed when the connection when it is necessary to operate to package the chip before the IDDQ test.

그 밖의 본 발명의 해결책으로서는, 테스트시에 기판 바이어스를 고속으로 구동할 수 있도록, 칩내에 내장하는 전압발생회로를 구성하는 방법이 있다. As the other solutions of the present invention, a method for driving the substrate bias at high speed at the time of a test, configure a voltage generating circuit built in the chip.구체적인 하나의 방법은, 2종류 이상의 전압발생회로를 준비하여 한쪽을 IDDQ 테스트전용으로서 사용하는 방법이 있다. One specific method, a method of using one as IDDQ testing only by preparing a voltage generating circuit of two or more kinds.그 전압발생회로의 소비전력은 신경쓰이지 않는 것을 이용하여, 고속으로 기판 바이어스를 어떤 값으로 안정화할 수 있는 회로구성으로 한다. Power consumption of the voltage generating circuit is used that does not even notice, and as a circuit configuration capable of high speed to stabilize the substrate bias voltage to any value.한편, 칩의 대기시 전류를 저감하기 위해서 사용하는 전압발생회로에 관하여는 저전력으로 되는 것 같은 구성으로 한다. On the other hand, the configuration is such that with respect to low-power voltage generation circuit that is used to reduce the standby current of the chip.이와 같이, 용도에 따라서 전압발생회로를 구별지어 사용하는 것으로 상기 문제점(B)을 해결할 수 있다. In this way, it is possible to solve the above problems (B) to be built to identify the voltage generating circuit used in accordance with the application.물론, 하나의 전압발생회로에서 복수의 동작상태를 갖게 하여, 용도마다 알맞은 동작방법으로 동작하도록 구성해도 좋다. Of course, in a voltage generating circuit has a plurality of operation states, and may be configured to operate in the proper way for each operating purpose.

이상에서 설명한 본 발명의 IDDQ 전류측정방법을 사용한 IDDQ 테스트를 이용하면, 그것과 조합된 각종 테스트항목(에이징을 포함한다)에 의해서 여러가지 조합으로 칩의 테스트가 가능하다. With the IDDQ test using the IDDQ current measurement method of the present invention described above, it is possible to test the chips in various combinations by (including aging) Various test items in combination with it.그러나, 본 발명에서는 적어도 IDDQ 테스트시에 전원전압을 칩의 통상 동작시의 전원전압(통상전압)보다도 낮게 하고, 더욱이 기판 바이어스를 칩의 통상동작시보다도 깊게 인가하여 전류측정을 행한다면, 그 조합은 특별히 한정하지 않는다. However, if the present invention to be lower than the power supply voltage (normal voltage) for normal operation of the power supply voltage at least IDDQ test chip and further by applying a deep substrate bias voltage than that during the normal operation of the chip carrying out current measurements, the combination It is not particularly limited.또한 더욱이 본 발명의 IDDQ 전류측정방법시에, 기판 바이어스는 그대로이고, 전원전압만을 통상전압보다도 낮게 하여, 기판 바이어스는 인가하지 않고 측정하더라도 좋다. Further and also during the IDDQ current measurement method of the present invention, the substrate bias is intact, and only the low power supply voltage than the normal voltage, substrate bias may be measured without applying.요점은 칩의 선별 테스트시에 행하는 IDDQ 테스트시의 전류측정을, 칩의 전원사이에 흐르는 서브드레시홀드 리크전류나 pn접합 리크전류(GIDL 전류를 포함한다)가 작게 되도록 전원전압치와 기판 바이어스치를 조정하면 좋다. The point is the current measured at the time of the IDDQ test is performed at the time of screening test of the chip, (including the GIDL current), the subthreshold leakage current or the pn junction leakage current flowing between the power supply of the chip, the power voltage and the substrate bias value to be smaller may be adjusted.

상기 IDDQ 테스트시에 전원전압을 낮게 할 때의 전원전압치에 관하여는, 그 전원전압이 인가되는 칩내의 메모리회로(래치나 SRAM 또는 레지스터 등의 정보를 기억하고 있는 회로)의 기억내용이 소거되지 않는 전원전압치이면 좋다. Stored contents are not erased in the memory circuit in that the power supply voltage is applied to the chip (a circuit that stores information, such as a latch or SRAM or register) with respect to the power supply voltage at the time of low power source voltage at the time of the IDDQ test If the power supply voltage that is good.일반적으로는 전원전압치를 너무 낮게 하면, 상기 기억내용의 유지가 어렵게 되고, 더욱이 회로의 동작이 불안정하게 되어 서브드레시홀드 리크전류 이외의 별도의 요인인 전 류가 전원단자 사이로 흐를 우려가 있다. In general, there is a risk a too low value of the supply voltage, the holding of the stored contents becomes difficult, and further the operation of the circuit becomes unstable before a separate factor than the subthreshold leakage current flow is flowing between the power supply terminal.이 최저전압치는 회로를 구성하는 M0S 트랜지스터의 문턱치 전압에도 의존하기 때문에, 여기서는 특별히 한정하지 않는다. Since this depends on the threshold voltage of the transistors constituting the M0S lowest voltage value circuit, therefore it is not particularly limited.고장을 판별할 수 있는 것이면 상기한 메모리회로의 기억내용이 소거되지 않는 최저전압보다도 더 낮은 전압치라도 좋다. It can be as long as may be lower than the voltage cease lowest voltage which does not erase the stored contents of said memory circuit to determine the failure.

또한, 칩 중에는 통상동작시에 2종류 이상의 전원전압으로 동작하는 것이 있지만, 각각의 전원에 대하여 IDDQ 테스트를 하는 경우, 모든 전원의 전류를 상기한 본 발명의 여러가지의 방법을 사용하여 동시에 측정하더라도 좋고, 1개씩 또는 수개씩 차례대로 측정하더라도 좋다. In addition, while it is operating in the power supply voltage at least two kinds of the normal operation during the chip, if the IDDQ test, for each of the power source, may use a variety of methods of the present invention, even if measured at the same time the current in all power or it may be measured as one by one or by one turn.

또한 더욱이, 칩의 안에는 정전류원 회로와 같은 통상 동작시에도 소량의 전류가 전원단자 사이에 흐르는 회로가 포함되어 있는 경우가 있다(이하, 이것들의 전류를 정상전류(定常電流)라고 부른다). In addition, In addition, (hereinafter referred to as the normal current (定 常 電流 to these current)) can, if inside of the chip, even during the normal operation, such as a constant current source circuit and a small amount of current that is included in the circuit flows between the power supply terminal.그 경우에는 고장에 의한 전류인지 정상전류인지를 구별할 수 없기 때문에, IDDQ 테스트가 정상으로 기능할 수 없다. In that case, because it can not distinguish between whether the current steady-state current of the fault can not be the IDDQ test the function normal.그 경우에는, 도 18과 같은 칩을 구성하면 좋다. In this case, the chip may be configured as shown in FIG 18.도 18에서 1800은 그와 같은 칩을 나타낸다. In Figure 18, 1800 denotes a chip like that.회로군(1801)은 상기한 정상전류가 흐르는 회로군을, 회로군(1802)은 정상전류가 흐르지 않는 회로군을 나타낸다. A circuit group 1801 is a group wherein a normal circuit current flows, the circuit group 1802 illustrates a group is operational circuit current does not flow.전원패드(1803과 1804)는 회로군(1801)에 접속되고, 전원패드(1805와 1806)는 회로군(1802)에 접속되어 있다. Power pads (1803 and 1804) is connected to the circuit group 1801, the power supply pad (1805 and 1806) is connected to the circuit group 1802.1807과 1808은 반도체 스위치이다. 1807 and 1808 is a semiconductor switch.도 18에서는 각각 1개씩의 패드밖에 없지만, 이것은 도면을 간단히 하기 위해서 이고, 특별히 각각의 수는 한정하지 않는다. Although Figure 18 shows only one each of the pads, respectively, and this is in order to simplify the drawing, no particular limitation is the number of each.또한, 기판 바이어스 관련 단자의 접속은 도 1부터 도 17까지와 마찬가지로 할 수 있기 때문에, 여기서는 생략한다. Further, owing to the same manner as the connection from FIG. 1 of the substrate bias terminal related to Figure 17 is therefore omitted here.

IDDQ 테스트시에는 스위치(1807과 1808)를 오프(off)하고, 전원패드(1805와 1806)를 사용하여 본 발명의 IDDQ 전류측정방법을 행한다(당연히 그 때, 전원패드(1803와 1804)에도 소정의 전압을 인가한다). IDDQ test when the switch (1807 and 1808) the off (off), and performs the power supply pad (1805 and 1806) method IDDQ current measurement according to the present invention using (of course, at that time, given to the power supply pad (1803 and 1804) and a voltage application).정상전류가 흐르는 회로(1801)의 영향을 받지 않고서 칩(1800)의 IDDQ 테스트가 가능하게 된다. Without being affected by the steady current through the circuit 1801 is to enable the IDDQ test for chip 1800.

한편, 이들의 테스트시 이외인 때에는 전원패드(1804와 1806)를 스위치(1808)를 온(on)시켜 접속하고, 전원패드(1803와 1805)를 스위치(1807)를 온(on)시켜 접속한다. On the other hand, when other than during these tests is connected by turning on the power supply pad (1804 and 1806), the switch (1808) (on) connected to, and turns on the power pads (1803 and 1805), the switch (1807) (on) .스위치(1807, 1808)를 사용하지 않고서, 칩 밖에서 전원패드(1804와 1806) 및 전원패드(1803과 1805)를 각각 본딩으로 접속하거나, 프린트기판(PCB) 위에서 그것들을 접속하여도 좋다. Switch (1807, 1808) without the use of the, connected to each bonding pad in the power (1804 and 1806) and the power supply pad (1803 and 1805) out of the chip, or may be connected to those on the printed circuit board (PCB).그러나, 도 18과 같이 칩내부에서 스위치를 사용하여 저저항에 접속한 쪽이, 회로(1801)와 회로(1802)의 전원전압레벨이 노이즈등에 의해서 어긋나는 것을 막을 수 있어, 오동작이나 소비전력의 증가를 막을 수 있다. However, even by using a switch in the chip as shown in 18 is a side connected to the low resistance, there is a power supply voltage level of the circuit 1801 and the circuit 1802 can be prevented from displaced by such noise, an increase in the abnormal operation or the power consumption the film can be.

스위치(1807이나 1808)의 구성방법은 특별히 한정하지 않지만, CM0S 스위치로 구성하더라도 좋다. Method for configuring a switch (1807 and 1808) is not particularly limited, and may be composed of CM0S switch.또한 전원패드(1803)가 양(正)전원측(vdd)이고 전원패드(1804)가 음(負)전원측(vss)이면, 스위치(1807)는 PM0S이고 스위치(1808)는 NM0S로 구성하는 것이 좋다. In addition, when the power supply pad 1803 is positive (正) power source side (vdd) and a power supply pad 1804 um (負) power supply side (vss), the switch 1807 is PM0S a switch 1808 may be composed of NM0S .그것들의 스위치의 제어방법도 특별히 한정하지 않는다. The control method thereof of the switch is also not particularly limited.

도 13은 도 2와는 다른 별도의 실시예이다. 13 is a second embodiment other than a separate.BAT2는 전지이고, 도 2와의 차이는 스탠바이시의 vdd로의 전원공급을 DC-DC 컨버터(DCl)로부터가 아니고, 전지(BAT2)로부터 행하고 있는 점이다. The battery BAT2, and the difference from FIG. 2 is a point that not the vdd from the DC-DC converter (DCl) the power supply to the standby mode, is performed from the battery (BAT2).스탠바이시에는 전지(BAT1)와는 다른 전지로부터 회로(CKT0)의 전원이 공급된다. Standby mode, the battery (BAT1) than from the other battery is supplying power to the circuit (CKT0).전지의 개로전압(開路電壓)의 보다 작은 전지를 전지(BAT2)로 사용할 수가 있다. A smaller battery of the battery open-circuit voltage (開路 電壓) can be used as a battery (BAT2).전지(BAT2)는 특별히 한정하지 않지만, 니켈수소 전지나 니켈카드뮴 전지가 그 패로전압(閉路電厭)으로 바람직하다. Battery (BAT2) is not particularly limited, nickel metal hydride batteries or nickel cadmium batteries are preferred in that the voltage losses (閉路 電 厭).

본 발명의 스탠바이상태 2 또는 스탠바이상태 3의 실현수단에 관하여는, 도 2나 도 13의 구성에 한정하지 않는다. About realization means of the present invention the stand-by state of 2 or standby mode 3 is also not limited to two in FIG. 13 or configuration.예를 들면 도 2의 DC-DC 컨버터(DC2)와 다이오드(D10)로 이루어지는 패스와, 다이오드(D11∼D14)로 이루어지는 패스를 사용한 전원전압의 전환방법에 관하여는, DC-DC 컨버터(DC2)에 출력전압 전환기능을 갖게하면 마찬가지의 것이 실현된다. For example, degree of, the DC-DC converter (DC2) with respect to the path, a diode-switching method of the power supply voltage using a path consisting of (D11~D14) consisting of a DC-DC converter (DC2) and a diode (D10) of 2 When the output voltage has the switching function is realized it is the same.

도 14에 이 실시예를 나타낸다. The Figure shows an exemplary embodiment 14.도 14에서는 도 13에 나타낸 다이오드 스위치에 대신해서 전원전환기(PSW)를 사용하고 있다. To the diode 14 instead of the switch shown in FIG. 13 and using a supply voltage switch (PSW).전원전환기(PSW)는 Vin의 전압이 어떤 기준전압보다도 높은 때에는 Vin과 Vout를 쇼트시킨다. Supply voltage switch (PSW) when the voltage of Vin is higher than a certain reference voltage to the short Vin and Vout.또한, 어떤 기준치보다도 작은 때에는 Vbat와 Vout를 쇼트시킨다. In addition, when smaller than a certain reference value then the short Vbat and Vout.이 방법에 의해서 전원전환을 다이오드 스위치를 사용한 경우와 마찬가지로 자동적으로 행하는 것이 가능하게 된다. The power conversion by this method it is possible to automatically perform, as in the case using a diode switch.

도 14(B)는 전원전환기(PSW)의 실시예이다. Figure 14 (B) is an embodiment of the supply voltage switch (PSW).301은 비교기(comparator), 302 는 기준전압 발생기, 305와 306은 인버터, 307과 310은 PMOS 트랜지스터, 308과 309는 다이오드이다. 301 is a comparator (comparator), 302 is a reference voltage generator, 305 and 306 are inverters, 307 and 310 are PMOS transistors, 308 and 309 are diodes.Vin의 전압치와 기준전압 발생기(302)의 출력이 비교기(301)에서 비교되어, 비교결과를 304로 출력하고 있다. The output of the voltage and the reference voltage generator 302 of Vin is compared in the comparator 301, and outputs the comparison result to 304.이 비교결과에 의해 PM0S 트랜지스터(307과 310)의 어느 쪽인가를 온(on)한다. It is turned on (on) to any one of the PM0S transistors (307 and 310) by the result of this comparison.다이오드(308, 309)는 PM0S 트랜지스터의 전류구동능력 이상의 전류가 흐른 때의 바이패스로서 사용되고 있다. Diodes 308 and 309 are used as a bypass when the current or more current driving capability of the transistor PM0S later.PM0S 트랜지스터는 전류구동능력이 필요하게 되기 때문에, 프로세스적으로 사용가능하면 바이폴라 트랜지스터(bipolar transistor)를 사용하여도 좋다. PM0S transistor, since the required current driving capability, when enabled by enemy process may be used in a bipolar transistor (bipolar transistor).다이오드 스위치를 사용한 도 2의 방법에서는 다이오드의 전압 드롭(drop)(Vf)이 문제로 되지만, 도 14의 방식에서는 이 문제가 생기지 않는다. In the method of Figure 2 using a diode switch, the voltage drop (drop) (Vf) of a diode, but as a problem, in the manner of Figure 14 does not occur a problem.

도 15는 또다른 실시예이다. 15 is a still another embodiment.여기서는 전지는 BAT1과 BAT3의 두개로 구성되고, 액티브시에는 전지 BAT1이 사용되며, 스탠바이시에는 전지 BAT3가 사용된다. Here, the battery is composed of two BAT1 and BAT3, active mode, the battery BAT1 is used, the battery BAT3 is used at the time of standby.또한, 회로(CKT0)에는 스탠바이시의 회로(CKT2)의 전원전압을 발생하는 전원회로(320)가 내장되어 있다. The circuit (CKT0) has a built-in for generating a power supply voltage of the circuit (CKT2) in standby mode the power supply circuit 320.전원회로(320)는 연산증폭기(operational amplifier)(322)와 PM0S 트랜지스터(323) 및 기준전압 발생기(321)에 의해서 구성되어 있다. The power supply circuit 320 is configured by an operational amplifier (operational amplifier), (322) and PM0S transistor 323 and the reference voltage generator 321.여기서는 기준전압 발생기(321)의 출력전압은 0.9V이다. Here, the output voltage of the reference voltage generator 321 is 0.9V.324는 vdd 전위모니터이고, vdd가 0.9V이상이면 전원회로(320)의 동작이 오프(off)되고, 0.9V이상이면 전원회로(320)의 동작이 온(on)된다. 324 is a vdd voltage monitor, vdd is not less than 0.9V, and the off-operation (off) of the power supply circuit 320, is above 0.9V is turned on (on) operation of the power supply circuit 320.전원전환기(PSW)는 도 14(B)에 나타낸 것이다. Supply voltage switch (PSW) is shown in Fig. 14 (B) Fig.

도 15에서는 도 2와 비교하면 스탠바이 제어회로(STBC2)가 없고, DC-DC 컨버터(DC1)로부터의 전원공급에 의하여 스탠바이 제어를 하고 있다. If in Figure 15 compared with Figure 2 and the standby control by the power supply from the standby control circuit it is not (STBC2), DC-DC converter (DC1).즉, 액티브상태 에서는 전지(BAT1)로부터의 전원이 DC-DC 컨버터(DC1)에 의해서 승압 또는 강압되어 3.3V로 안정화된 후에, 전원전환기(PSW)를 통해 vddq 및 vbpq에 공급된다. In other words, the active mode, the power from the battery (BAT1) is the step-up or step-down by the DC-DC converter (DC1) after the stabilized at 3.3V, is supplied to the vddq and vbpq through the supply voltage switch (PSW).또한, DC-DC 컨버터(DC1)의 출력은 DC-DC 컨버터(DC2)에도 입력되고, 거기서 1.8V로 강압되어 vdd로서 회로(CKT0)에 공급된다. Further, the output of the DC-DC converter (DC1) is input to the DC-DC converter (DC2), there is step-down to 1.8V is supplied as vdd to the circuit (CKT0).vdd 전위모니터(324)는 vdd의 전위를 모니터하고, vdd가 0.9V 이상이기 때문에 전원회로(320)는 오프(off)되어 있다. vdd voltage monitor 324 may monitor because the potential of the vdd, vdd is more than 0.9V power supply circuit 320 is turned off (off).

한편 스탠바이상태에서는, DC-DC 컨버터(DC1)로부터의 전원공급이 정지된다. On the other hand in the stand-by state, the power supply from the DC-DC converter (DC1) is stopped.이것에 의해, 전원전환기(PSW)는 전지(BAT3)의 출력(Vbat과 Vout)을 쇼트하고, vddq 및 vdpq로 전지(BAT3)의 전원이 공급된다. Thus, the supply voltage switch (PSW) is a short circuit the output (Vbat and Vout) of the battery (BAT3), and the power of the battery (BAT3) is supplied to the vddq and vdpq.또한, DC-DC 컨버터(DC2)로는 전원이 공급되지 않게 되기 때문에, DC-DC 컨버터(DC2)에 의한 vdd로의 전원공급이 없어진다. In addition, the DC-DC converter (DC2) roneun since no power is supplied, eliminating the power supply to the vdd by the DC-DC converter (DC2).vdd 전위모니터(324)는 vdd의 전위를 모니터하고, vdd가 0.9V이하로 되기 때문에 전원회로(320)를 온(on)한다. vdd voltage monitor 324 monitors the voltage vdd, and a, vdd is to (on) the power-on circuit 320, since more than 0.9V.이것에 의해서 vdd로는 기준전압 발생기(321)의 출력전압과 같은 전위 0.9V가 PM0S 트랜지스터(323)로부터 공급된다. Thus, the potential vdd roneun 0.9V as the output voltage of the reference voltage generator 321 is supplied from PM0S transistor 323.전지(BAT3)로는 특별히 한정하지 않지만, 리튬전지가 그 개로전압(開路電厭) 및 에너지밀도때문에 적합하다. Roneun cell (BAT3) is not particularly limited, a lithium battery is suitable due to its open-circuit voltage (開路 電 厭) and the energy density.

전원회로(320)는 코일등을 필요로 하지 않기 때문에 집적회로화하기 쉽다. Power circuit 320 is easy to integrated circuit does not require a coil or the like.회로(CKT0)를 하나의 반도체 칩으로 하면, 회로(CKT0) 이외에 스탠바이시에 사용하기 위한 특별한 전원회로가 필요하지 않다고 하는 이점이 있다. When the circuit (CKT0) as a semiconductor chip, there is an advantage that special power supply circuit is not necessary for use in standby mode other than the circuit (CKT0).또한 도 14와 마찬가지로, 다이오드 스위치를 사용한 도 2의 방법과 비교하면 다이오드의 전압드롭(Vf)의 문제가 없다고 하는 이점이 있다. In addition, there is the advantage that as in Fig. 14, when using a diode switch, compared with the method of Figure 2 that the problem of voltage drop (Vf) of a diode.

도 2, 도 14에 있어서 스탠바이 제어회로(STBC2)는 회로(CKT0)의 외부로 기 술되어 있지만, 회로(CKT0) 내에 설치하더라도 좋다. 2, the standby control circuit (STBC2) in FIG. 14, but the alcohol group to the outside of the circuit (CKT0), may be provided in the circuit (CKT0).그 경우, 회로(CKT0)로부터의 신호에 의해서 스스로의 전원전압을 변화시키는 것이 된다. In that case, it is to vary the power supply voltage of itself by the signal from the circuit (CKT0).또한, 회로(CKT1)내에 내장하여도 좋다. In addition, or it may be incorporated in the circuit (CKT1).회로(CKT1)의 전원전위는 vdd 전위만큼 변동하지 않기 때문에, 회로(CKT1)의 회로설계를 용이하게 할 수 있다. The power supply potential of the circuit (CKT1) may facilitate the design of the circuit does not change as the vdd voltage, a circuit (CKT1).또한 당연히, 회로(CKT0)내에 있어서도 vdd와는 다른 계통의 전원이 스탠바이 제어회로(STBC2)에 공급되어 있더라도 좋다. In addition, of course, it is good, even if the power supply of other system than in the circuit even vdd (CKT0) is supplied to the standby control circuit (STBC2).

이상, 도 2, 도 13, 도 14, 도 15에서 나타낸 실시예 이외에도 여러가지의 구성이을 취할 수 있다. Or more, Fig. 2, 13, 14, in addition to the embodiment shown in Figure 15 for example, may take a variety of configurations fall.이하, 도 2의 구성을 바탕으로 다른 실시예를 나타내지만, 기판 바이어스를 액티브시보다도 깊게 인가하고, 게다가 그 회로에 공급하는 전원전압을 낮게 한다고 하는 전력저감 모드를 구비하여 스탠바이시의 저전력화가 실현될 수 있으면 특별히 그 구성은 한정하지 않는다. Is another embodiment represents the substrate bias in the following, also based on the configuration of two deeper than when active and, besides artist realize low power in standby mode to a power reduction mode in which said low power supply voltage to be supplied to the circuit If the configuration is not to be particularly limited.

도 6는 도 2의 회로(CKT2)를, 스탠바이상태에서 전원을 오프(off)로 하면 회로내에 유지되어 있는 정보가 소거되어 전원전압의 복원에 의해서 액티브상태로 이행하는데 지장이 있는 회로(CKT3)와, 그렇지 않은 회로(CKT4)로 분리한 경우의 실시예이다. A circuit (CKT2) of Fig. 6 is also, when the power in the standby state to the off (off) is the erase information held in the circuit with the obstacle in implementing an active state by the restoration of the supply voltage circuit (CKT3) and, it is not an embodiment in a case where a separate circuit (CKT4).

스탠바이시에는, 전원을 소거하여도 지장이 없는 회로(CKT4)에는 전원스위치(SW1)를 통해 전원(vddc)이 공급되어 있다. In standby mode, the power circuit can not do this difficulty erased (CKT4) is the power (vddc) is supplied through the power switch (SW1).전원스위치(SWl)는 스탠바이 제어회로(STBC2)에 의해서 제어되고 있고, 스탠바이시에는 전원스위치(SW1)를 오프(off)로 하는 것으로 회로(CKT4)의 전원공급이 차단된다. Power switch (SWl) may be controlled by the standby control circuit (STBC2), during standby, the power supply to that circuit (CKT4) that turns off the power switch (SW1) (off) is cut off.이것에 의해 회로(CKT4)에 흐르는 서브드레시홀드 리크전류에 의한 전력소비를 삭감할 수 있다. Thereby it is possible to reduce the power consumption due to the subthreshold leakage current flowing in the circuit (CKT4).

스탠바이시에 회로(CKT3)의 전원을 오프(off)한 때, 통전(通電)되어 있는 회로(CKT3)가 오동작하지 않도록 회로(CKT3)와 회로(CKT4)사이에서의 인터페이스에 출력 고정회로나 입력 고정회로가 필요하지만, NAND나 N0R라고 한 CM0S 회로를 사용하면 간단히 실현할 수 있으므로 여기서는 생략하고 있다. Off power to the circuit (CKT3) at the time of standby (off) at one time, the power application (通電) are circuit (CKT3) is not a malfunction circuit (CKT3) and the circuit (CKT4) output at the interface between the fixed circuit or input since fixing circuit is necessary, however, the use of a circuit as NAND or CM0S N0R simply achieved in this case is omitted.

스탠바이시의 서브드레시홀드 리크전류를 본 발명의 도 1의 방법을 사용하여 삭감하고, 다시 도 6의 방식과 같이 전원을 끊더라도 지장이 없는 회로의 전원을 끊는다고 하는 방법을 조합시키는 것으로, 시스템 전체로서 보다 저전력화를 달성할 수 있다. That of combining a method of that of the the subthreshold leakage current in standby invention cut by using the method of Figure 1, and again disconnect the power source, such as the way of Figure 6, even powering off the not interfere circuit, system it is possible to achieve low power than the full screen as.

도 7은 도 6의 전원스위치(SWl)를 회로(CKT0)내에 설치한 경우의 실시예이다. 7 is an embodiment in the case of the Power switch (SWl) in the circuit of Figure 6 (CKT0).STBC2는 스탠바이 전원제어회로이고, 회로(CKT4)의 전원전압(vdd_v 및 vss_v)을 제어한다. STBC2 is the standby power supply control circuit controls the power supply voltage (vdd_v and vss_v) of the circuit (CKT4).스탠바이상태에서는 회로(CKT4)의 전원전압(vdd_v 및 vss_v)으로 예컨대 1.0V 및 0.8V가 인가되도록 한다. Standby state, so that for example the 1.0V and 0.8V power supply voltage (vdd_v and vss_v) of the circuit (CKT4) applied.0.2V의 전위차밖에 회로(CKT4)에는 공급되지 않기 때문에 회로(CKT4)내에 기억된 정보는 기억되지 않지만, 회로(CKT4)내에 흐르는 서브드레시홀드 리크전류를 대폭으로 저감할 수 있다. Only a potential difference of 0.2V circuit (CKT4) is because it is not supplied, but the information stored in the circuit (CKT4) is not stored, it is possible to reduce the subthreshold leakage current flowing in the circuit (CKT4) substantially.물론, 도 6의 경우와 같이 vdd_v, vss_v로 0.9V를 인가하여 전원을 완전히 차단하여도 좋다. Of course, by applying 0.9V as vdd_v, vss_v, as in the case of Figure 6 it may be completely cut off the power.

한편, 가상전원(vdd_v 및 vss_v)은 각각 M0S 트랜지스터(MP2 및 MN2)를 통하여 전원(vdd 및 vss)에 접속되어 있다. On the other hand, the virtual power supply (vdd_v and vss_v) is connected to a power supply (vdd and vss) via the respective M0S transistors (MP2 and MN2).따라서, 전원절환신호(電源切換信號)(pwsw)가 'H'인 때에는 가상전원(vdd_v 및 vss_v)은 각각 전원(vdd 및 vss)에 접속되는 것이 된다. Thus, when the power switching signal (電源 切換 信號) (pwsw) is an 'H' virtual power (vdd_v and vss_v) is to be connected to each power supply (vdd and vss).또한, 전원절환신호(pwsw)가 'L'인 때에는 가상전원(vdd_v 및 vss_v)은 하이 임피던스(high impedance) 상태가 되고, 그 전위는 가상전원(vdd_v 및 vss_v) 사이에 접속되어 있는 회로의 리크전류 등에 의해 결정되는 값으로 된다. Further, when the power switching signal (pwsw) is an 'L' virtual power (vdd_v and vss_v) is the state a high impedance (high impedance), the potential leakage of the circuit connected between the virtual power (vdd_v and vss_v) is a value that is determined by the current.

스탠바이상태 5에서는 스탠바이상태 4의 상태에 더하여, 전원절환신호(pwsw)가 0V로 된다. In standby mode 5, in addition to the state of the standby mode 4, the power supply switching signal (pwsw) is at 0V.이것에 의해, 가상전원(vdd_v 및 vss_v)은 전원(vdd 및 vss)으로부터 분리된다. Virtual power (vdd_v and vss_v), by which is separated from a power supply (vdd and vss).그것에 의하여, 가상전원(vdd_v 및 vss_v)의 전위는 리크등에 의해서 결정되는 어떤 값(여기서는 1.0V 및 0.8V)이 된다. By this, the potential of the virtual power supply (vdd_v and vss_v) becomes a certain value (in this case, 1.0V and 0.8V), which is determined by the leakage or the like.표준셀(ncell1∼ncelln)의 회로중의 M0S 트랜지스터의 기판 바이어스는 깊게 되고, 기판 바이어스 효과에 의해 문턱치가 높게 되는데 더하여, DIBL 현상에 의해서(ncell1∼ nce11n)의 회로중의 M0S 트랜지스터의 문턱치는 꽤 높게 된다. M0S threshold of the transistor in the circuit of the standard cell substrate bias of the transistor in the M0S (ncell1~ncelln) of the circuit is deeper, in addition there is a high threshold value by a substrate bias effect, (ncell1~ nce11n) by the DIBL phenomenon is quite It becomes high.이것에 의해 서브드레시홀드 리크전류를 대폭으로 저감할 수 있다. This can be reduced significantly by the subthreshold leakage current.

M0S 트랜지스터의 산화막 두께에 관하여는, 스탠바이시에 고전압이 게이트·소스 또는 게이트·드레인 사이에 인가되기 때문에, M0S 트랜지스터(MP1 및 MN1)의 산화막은 표준셀(ncell1) 중의 M0S 트랜지스터의 산화막보다도 두껍게 할 필요가 있다. With respect to the oxide film thickness of M0S transistors, since the high voltage to the standby mode is applied to the gate-source or gate-drain oxide film of M0S transistors (MP1 and MN1) is to be thicker than the oxide film of M0S transistor of the standard cell (ncell1) there is a need.한편, M0S 트랜지스터(MP2 및 MN2)의 산화막에 관하여는, 게이트·소스 또는 게이트·드레인 사이에 고전압이 인가되는 것이 아니기 때문에, 표준셀(ncell1) 중의 M0S 트랜지스터의 산화막과 같은 산화막 두께로 좋다. On the other hand, with respect to the oxide film of M0S transistors (MP2 and MN2) it is, because it is a high voltage on the gate-source or gate-drain is applied, as may the thickness of the oxide film such as an oxide film of the transistor of the standard cell M0S (ncell1).

도 10 및 도 11은 스위치셀(swcell1)의 배치방법의 실시예이다. 10 and 11 are embodiments of the placement of the switch cell (swcell1).가상전원(vdd_v 및 vss_v)은 ncell1∼ncelln에 있어서 전원선이 되기 때문에, 고속동작를 위해서는 그 임피던스는 될 수 있는 한 작게 할 필요가 있다. Since the virtual power to be the power supply line in the (vdd_v and vss_v) is ncell1~ncelln, the impedance to high-speed dongjakreul is required to be as small as possible.스위치 셀(swcell1)을 다수배치하면 그만큼 저임피던스가 되지만, 수에는 한계가 있고, 게다가 다수의 swcell1의 배치는 면적증가를 초래한다. When placing a number of switch cells (swcell1) it is so low impedance, but had a number of limitations, plus the arrangement of the plurality of swcell1 results in an increased area.

도 10은 효율적인 스위치 셀(swcell1)의 배치방법을 나타낸 것이다. Figure 10 shows the alignment of the effective switch cell (swcell1).도 10에서는 처리되는 신호의 흐름이 도면에 나타낸 X방향인 것으로 한다. In Figure 10, it assumed to be the X direction shown in the flow of signal processing drawing.도 10에서 ncell2와 ncell5 또는 ncell1과 ncell4는 동시에 동작하지만, ncell2와 ncell1 및 ncell5와 ncell4는 동시에는 동작하지 않는다. In Figure 10 ncell2 and ncell5 or ncell1 and ncell4 is operated at the same time, however, and ncell2 ncell1 and ncell5 ncell4 and at the same time does not operate.따라서, 하나의 가상전원(vdd_v 및 vss_v)에 접속된 회로의 중에서 동시에 동작하는 회로수는 적어진다. Thus, the circuit which in the connected to one virtual power supply (vdd_v and vss_v) circuit operating at the same time will be reduced.

하나의 가상전원에 접속된 회로가 동시에 다수 동작하지 않도록 신호의 흐름 방향과 가상전원의 방향을 평행하게 되도록 설계하는 것으로, 가상전원에 흐르는 전류피크를 억제할 수 있다. By designing so that the circuit connected to a single virtual power at the same time parallel to the direction of flow and direction of the virtual power of the signal so as not to operate a large number, it is possible to suppress the peak current flowing in the virtual power.전류피크가 낮게 되면 같은 전원 임피던스의 경우에는 발생하는 전원 범프량을 줄이게 하는 것으로 되기 때문에, 실효적으로는 가상전원을 저임피던스로 한 것과 등가로 된다. Because that when the power source impedance as if the current peak is low, the amount of reducing the power bump occurring, effectively as is the equivalent to that of the virtual power as a low impedance.이 관점에서는 도 11은 도 10보다도 비효율적인 swcell1의 배치방법이라고 할 수 있다. From this point of view 11 it may be said of all of the alignment ineffective swcell1 Fig.

도 10의 전원네트와 신호의 흐름 설계는, 예를 들면 데이터패스의 설계로 용이하게 실현된다. Flow design of the power net and the signal in FIG. 10, for example, it is easily realized by the design of the datapath.데이터패스의 신호의 흐름은 규칙적이기 때문에, 용이하게 가상전원을 평행하게 되도록 설계할 수 있다. Since the flow of the signal of the data path is regular and can be easily designed so that the virtual power supply in parallel.

본 발명의 방법의 주된 효과는 이하와 같다. The main effect of the method of the present invention is as follows.

(1) 기판 바이어스 효과와 DIBL 현상에 의한 문턱치 전압의 변화에 의해, 스탠바이상태에서의 서브드레시홀드 리크전류에 의한 소비전력증가를 억제할 수 있다. 1 can be due to the change of the threshold voltage due to the substrate bias effect and the DIBL phenomenon, suppress an increase in power consumption due to the subthreshold leakage current in standby mode.

본 발명은 바람직한 실시예와 관련하여 기술되었지만, 기술분야에 있어서 당업자는 이 발명으로부터 상기 실시예에 다양한 변형을 할 수 있을 것이고, 이는 여전히 첨부된 클레임에 정의된 것으로서 본 발명의 범위와 정신에 속하는 것이다. While the invention has been described in connection with the preferred embodiment, the technique in the field of ordinary skill in the art will be able to make various modifications to the above embodiments from this invention, which is as yet defined in the appended claims within the scope and spirit of the invention will be.

PMOS 트랜지스터와 NMOS 트랜지스터를 포함하는 논리회로와, 제1 전원전압 및 제2 전원전압을 상기 논리회로에 공급하는 전원전압제어회로와, 제1 기판 바이어스 전압을 상기 PMOS 트랜지스터에, 제2 기판 바이어스 전압을 상기 NMOS 트랜지스에 공급하는 기판 바이어스 제어회로를 구비하는 것으로서, A logic circuit and a first power supply voltage and the second and the power supply voltage control circuit for supplying a power supply voltage to the logic circuit, the first substrate bias voltage including a PMOS transistor and an NMOS transistor in the PMOS transistor, the second substrate bias voltage to as having a substrate bias control circuit to be supplied to the NMOS transistor,

상기 PMOS 트랜지스터 및 NMOS 트랜지스터의 소스-드레인 경로는, 상기 제1 전원전압과 상기 제2 전원전압과의 사이를 지나는 것으로서, The source of the PMOS transistor and NMOS transistor, a drain path is, as the first passes between the power supply voltage and the second power supply voltage,

통상동작에서, 상기 기판 바이어스 제어회로는 상기 제1 기판 바이어스 전압을 제1 전압으로, 상기 제2 기판바이어스 전압을 상기 제1 전압보다도 낮은 제2 전압으로 제어하고, In normal operation, the substrate bias control circuit controlling the first substrate bias voltage to the first voltage, by the first low second voltage than the first voltage to the second substrate bias voltage,

상기 전원전압 제어회로는 상기 제1 전원전압을 제3 전압으로, 상기 제2 전원전압을 상기 제3 전압보다 낮은 제4 전압으로 제어되는 것으로서, As the power supply voltage control circuit which controls the first power supply voltage to a fourth voltage to the third voltage lower, than the second and the third voltage to the supply voltage,

상기 전원전압 제어회로에 의해 상기 제1 전원전압을 상기 제3 전압보다도 낮은 전압으로, 상기 제2 전원전압을 상기 제4 전압으로 제어하는 제1 공정과, 상기 제1 공정후, 상기 PMOS 트랜지스터와 상기 NMOS 트랜지스터가 스위칭하고 있지 않은 정지시로 하여 상기 반도체 집적회로장치의 전원전류를 계측하는 제2 공정을 가지는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. Wherein by the power supply voltage control circuit of the first power voltage of the second to a lower voltage than the third voltage, the second after the first the first processing step, to the control of the fourth voltage to the power supply voltage, the PMOS transistor and test method for a semiconductor integrated circuit device in that when stopping the switching NMOS transistor not having the second step for measuring the supply current of the semiconductor integrated circuit device.

상기 제1 패드 및 제2 패드는, 상기 반도체 집적회로장치의 패키지의 어느 하나의 핀에도 접속되어 있지 않고, 상기 제3 패드 및 제4 패드는, 상기 반도체 집적회로장치의 패키지 핀의 1개에 접속되어 있는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. Said first pad and second pad, the one of the semiconductor integrated circuit but is not connected to any one pin of the package of the device, wherein the third pad and the fourth pad, the package pins of said semiconductor integrated circuit device test method for a semiconductor integrated circuit device that is connected.

제 13 항에 있어서, 14. The method of claim 13,

상기 전원전압이 소정값보다도 낮을 때, 양품(良品)으로서 상기 반도체 집적회로장치를 선별하는 제3 공정을 더 가지는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. When the power source voltage is lower than the predetermined value, a non-defective product (良品) as the test method of the semiconductor integrated circuit device having a further third step of selecting said semiconductor integrated circuit device.

제 16 항에 있어서, 17. The method of claim 16,

선별된 상기 반도체 집적회로장치의 통상동작을 위해 상기 기판 바이어스 제어회로에 의해 상기 제1 기판 바이어스 전압을 상기 제1 전압으로, 상기 제2 기판 바이어스 전압을 상기 제2 전압으로 제어하고, 상기 전원전압 제어회로에 의해 상기 제1 전원전압을 제3 전압으로, 상기 제2 전원전압을 제4 전압으로 제어하는 제4 공정과, 상기 제4 공정후, 선별된 상기 반도체 집적회로장치에 기능 테스트를 실행하는 제5 공정을 더 가지는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. The first substrate bias voltage by the substrate bias control circuit for the normal operation of the screening of the semiconductor integrated circuit device by the first voltage, control the second substrate bias voltage to the second voltage, and the power supply voltage by the control circuit to the first power supply voltage to a third voltage, the second and the fourth step of controlling the supply voltage to the fourth voltage, after the fourth step, executing a function test for the screening of the semiconductor integrated circuit device test method of the semiconductor integrated circuit device having the further step of claim 5.

상기 반도체 집적회로장치는 논리회로를 포함하고, 통상동작에서의 상기 논리회로의 전원전압은 제1 전압이며, 통상동작에서의 상기 논리회로의 MOS 트랜지스터의 문턱치 전압의 절대치는 제2 전압이고, The semiconductor integrated circuit device has a power supply voltage of the logic circuit in a logic circuit, and the normal operation is the first voltage, the absolute value of the threshold voltage of the MOS transistor of the logic circuit in the normal operation is the second voltage,

상기 제1 IDDQ 테스트를 실행할 때에, 상기 전원전압은 상기 제1 전압보다도 낮은 제3 전압으로 되며, 상기 MOS 트랜지스터의 문턱치 전압의 절대치는 상기 제2 전압보다도 높은 제4 전압으로 되는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. When executing the first IDDQ test, the power supply voltage is a lower third voltage than the first voltage, the absolute value of the threshold voltage of the MOS transistor of the semiconductor integrated circuit device which is a fourth voltage higher than the second voltage test methods.

제 18 항에 있어서, 19. The method of claim 18,

상기 MOS 트랜지스터에 공급되는 기판 바이어스 전압은, 상기 MOS 트랜지스터의 문턱치 전압을 제어하기 위해 제어되는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. The substrate bias voltage supplied to the MOS transistor is a test method for a semiconductor integrated circuit device which is controlled in order to control the threshold voltage of the MOS transistor.

제 18 항 또는 제 19 항에 있어서, 19. The method of claim 18 or 19,

상기 반도체 집적회로장치는, 상기 기판 바이어스 전압의 공급을 받는 제1 패드와, 상기 전원전압의 공급을 받는 제2 패드를 가지는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. The semiconductor integrated circuit device includes a first pad to receive a supply of the substrate bias voltage, the test method of the semiconductor integrated circuit device having a second pad to receive a supply of the power supply voltage.

제 18 항 또는 제 19 항에 있어서, 19. The method of claim 18 or 19,

상기 제1 패드는, 상기 반도체 집적회로장치의 패키지의 핀에 접속되어 있지 않고, 상기 제2 패드는, 상기 패키지 핀의 1개와 접속되는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. The first pad, but not connected to the pin of the package of the semiconductor integrated circuit device, the second pad, the test method of the semiconductor integrated circuit device to be connected and 1 of the package pins.

제 18 항에 있어서, 19. The method of claim 18,

상기 제1 IDDQ 테스트를 실행하기 전에, 상기 논리회로의 전원전압으로서 상기 제1 전압보다도 높은 제5 전압을 상기 논리회로에 공급하는 공정을 더 가지는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. Before running the first IDDQ test, a test method of a semiconductor integrated circuit device having the further step of supplying a fifth voltage higher than the first voltage as the power supply voltage of the logic circuit to the logic circuit.

상기 제2 IDDQ 테스트를 실행할 때, 상기 전원전압은 상기 제1 전압보다도 낮은 제3 전압으로 되며, 상기 문턱치 전압의 절대치는 상기 제2 전압보다도 높은 제4 전압으로 되는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. When executing the first two IDDQ test, the power supply voltage, said first and a lower third voltage than the first voltage, the absolute value of the threshold voltage is a test method for a semiconductor integrated circuit device in the first high-fourth voltage than the second voltage.

제 24 항에 있어서, 25. The method of claim 24,

상기 제1 IDDQ 테스트를 실행할 때에 측정되는 제1 측정 전원전류와, And the first measure power supply current to be measured when performing the first IDDQ test,

상기 제2 IDDQ 테스트를 실행할 때에 측정되는 제2 측정 전원전류와의 차이에 의거해 상기 반도체 집적회로장치를 양품(良品)으로서 선별하는 공정을 가지는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. Test method of the first semiconductor integrated circuit device in accordance with the difference between the second measured power supply current to be measured when performing the second IDDQ test has the step of selecting said semiconductor integrated circuit device as a non-defective product (良品).

상기 기능 테스트를 실행할 때, 상기 전원전압은 상기 제1 전압으로 되며, 상기 문턱치 전압의 절대치는 상기 제2 전압이 되는 반도체 집적회로장치의 테스트 방법. When executing the function test, the power supply voltage is at the first voltage, the absolute value of the threshold voltage is a test method for a semiconductor integrated circuit device to which the second voltage.